Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0374655 - FZÚ 2012 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Lesiak, B. - Zemek, Josef - Houdková, Jana - Jiříček, Petr - Jozwik, A.
    Studies of EPES REELS spectra of polyethylenes aided by line shape analysis - effect of electron irradiation.
    Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. Roč. 184, č. 7 (2011), s. 360-365. ISSN 0368-2048. E-ISSN 1873-2526
    Grant CEP: GA ČR GA202/09/0428
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: polyethylene * EPES REELS * pattern recognition * line shape analysis * electron irradiation
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.958, rok: 2011
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0207519
     
     
  2. 2.
    0355353 - FZÚ 2011 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Lesiak, B. - Zemek, Josef - Jiříček, Petr - Stobinski, L. - Jozwik, A.
    The line shape analysis of electron spectroscopy spectra by the artifical intelligence methods for identification of C sp2/sp3 bonds.
    Physica Status Solidi B. Roč. 247, 11-12 (2010), s. 2838-2842. ISSN 0370-1972. E-ISSN 1521-3951
    Grant CEP: GA ČR GA202/09/0428
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: carbon nanotubes * temperature functionalization * electron spectroscopy * line shape analysis
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.344, rok: 2010
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0194140
     
     
  3. 3.
    0331835 - FZÚ 2010 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Lesiak, B. - Zemek, Josef - Houdková, Jana - Jiříček, Petr - Jozwik, A.
    XPS and XAES of polyethylenes aided by line shape analysis: The effct of electron irradiation.
    [Analýza tvaru XPS a XAES spekter polyetylénů: Vliv ozáření elektrony.]
    Polymer Degradation and Stability. Roč. 94, č. 10 (2009), s. 1714-1721. ISSN 0141-3910. E-ISSN 1873-2321
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: XPS * XAES * line shape analysis * electron beam degradation
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 2.154, rok: 2009
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0177246
     
     
  4. 4.
    0319735 - FZÚ 2009 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Lesiak, B. - Zemek, Josef - Jiříček, Petr - Gedeon, O. - Jozwik, A.
    Chemical state of Na and K ions in Na10K5 silicate glass under electron irradiation investigated by XPS with the aid of line shape analysis.
    [Chemický stav Na a K iontů v Na10K5 silikátovém skle ozařovaném elektrony studované pomocí XPS a analýzou tvaru linií.]
    Surface and Interface Analysis. Roč. 40, č. 12 (2008), 1507-1515. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
    Grant CEP: GA ČR GA104/06/0202
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: Na10K5 silicate glass * electron irradiation * XPS * line shape analysis * pattern recognition
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.272, rok: 2008
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0168812
     
     
  5. 5.
    0040918 - FZÚ 2007 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Lesiak, B. - Zemek, Josef - Jiříček, Petr - Jozwik, A.
    Studies of AuNi alloys by electron spectroscopies with the aid of the line shape analysis by the pattern recognition method.
    [Studium slitin AuNi elektronovou spektroskopií metodou analýzy tvaru linií.]
    Surface and Interface Analysis. Roč. 38, - (2006), s. 1204-1210. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/06/0459
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: elastic peak electron spectroscopy * EPES * x-ray photoelectron spectroscopy * XPS * line shape analysis * pattern recognition method * fuzzy k-nearest neighbour rule * fkNN rule * AuNi alloys * Au surface segregation
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.427, rok: 2006
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0134538
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.