Výsledky vyhledávání
- 1.0336016 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Margarone, Daniele - Kozlová, Michaela - Nejdl, Jaroslav - Rus, Bedřich - Mocek, Tomáš - Homer, Pavel - Polan, Jiří - Stupka, Michal - Jamelot, G. - Cassou, K. - Kazamias, S. - Klisnick, A. - Ros, D. - Bercegol, H. - Danson, C. - Hawkes, S.
Laser-induced damage studies in optical elements using x-ray laser interferometric microscopy.
[Studium laserem uměle výtvořených poškození optických elementů pomocí RTG laserové mikroskopické interferometrie.]
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 73610N/1-73610N/11. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) 7E08099; GA MŠMT(CZ) LC528
GRANT EU: European Commission(XE) 506350 - LASERLAB-EUROPE
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: x-ray laser * XUV interferometric microscopy * laser-induced optical damage * fused silica
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.823302
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180347 - 2.0090020 - FZÚ 2008 RIV NL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jamelot, G. - Ros, D. - Rus, Bedřich - Kozlová, Michaela - Cassou, K. - Kazamias, S. - Klisnick, A. - Mocek, Tomáš - Homer, Pavel - Polan, Jiří - Stupka, Michal
X-ray laser interference microscopy for advanced studies of laser-induced damages.
[Interferenční mikroskopie s rtg. laserem pro pokročilé studium poškozování optických povrchů.]
X-Ray lasers 2006. Dordrecht: Springer-Verlag, 2007 - (Nickles, P.; Janulewicz, K.), s. 571-576. Springer proceedings in physics, 115. ISBN 978-1-4020-6017-5. ISSN 0930-8989.
[International Conference on X-ray Lasers/10./ – ICXRL 2006. Berlin (DE), 21.08.2006-25.08.2006]
Grant CEP: GA ČR GA202/05/2316; GA MŠMT(CZ) LC528
GRANT EU: European Commission(XE) HPMT-CT-2001-00263; European Commission(XE) 506350 - LASERLAB-EUROPE
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: x-ray laser * x-ray interferometry * x-ray microscopy * laser-induced optical damage
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0151046 - 3.0082769 - FZÚ 2007 RIV FR eng J - Článek v odborném periodiku
Jamelot, G. - Ros, D. - Cassou, K. - Kazamias, S. - Klisnick, A. - Kozlová, Michaela - Mocek, Tomáš - Homer, Pavel - Polan, Jiří - Stupka, Michal - Rus, Bedřich
X-UV interferential microscopy: a tool for the study of the spoiling of optical surfaces.
[X-UV inteferenční mikroskopie: nástroj pro studium poškozování optických povrchů.]
Journal de Physique IV. Roč. 138, - (2006), s. 245-260. ISSN 1155-4339
Grant CEP: GA ČR GA202/05/2316; GA MŠMT(CZ) LC528
GRANT EU: European Commission(XE) 506350 - LASERLAB-EUROPE; European Commission(XE) HPMT-CT-2001-00263
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: X-ray laser * XUV interferometry * XUV microscopy * laser-induced optical damage * fused silica
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 0.315, rok: 2006
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0146238 - 4.0025880 - FZÚ 2006 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Rus, Bedřich - Jamelot, G. - Bercegol, H. - Kozlová, Michaela - Mocek, Tomáš - Homer, Pavel - Polan, Jiří - Stupka, Michal - Cassou, K. - Kazamias, S. - Klisnick, A. - Ros, D. - Danson, C. - Hawkes, S.
Advanced optical damage studies using x-ray laser interferometric microscopy.
[Pokročilé studium poškozování optických povrchů s použitím interferometrické mikroskopie a rentgenového laseru.]
Soft X-Ray Lasers and Applications /6./. Bellingham: SPIE, 2005 - (Fill, E.), s. 146-154. Proceedings of SPIE, 5919. ISBN 0-8194-5924-0. ISSN 0277-786X.
[Soft X-Ray Lasers and Applications /6./. San Diego (US), 01.08.2005-02.08.2005]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC528; GA ČR(CZ) GA202/05/2316
GRANT EU: European Commission(XE) 506350 - LASERLAB-EUROPE; European Commission(XE) HPMT-CT-2001-00263
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: X-ray laser * XUV interferometry * XUV microscopy * laser-induced optical damage * fused silica
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0116209