Výsledky vyhledávání
- 1.0420837 - ÚPT 2014 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mika, Filip - Novotný, Peter - Konvalina, Ivo
Imaging with a STEM detector, experiments vs. simulation.
Microscopy conference (MC) 2013. Proceedings. Vol. 2. Regensburg: University of Regensburg, 2013, s. 51-52.
[Microscopy Conference 2013. Regensburg (DE), 25.08.2013-30. 08.2013]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: STEM * image contrast * Monte Carlo simulations * transmitted electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227315 - 2.0367164 - ÚPT 2012 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona
Image contrasts in the scanning electron microscopy.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 49. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SEM * image contrast
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006671 - 3.0350664 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mika, Filip - Hovorka, Miloš - Frank, Luděk
Imaging of dopants under presence of surface ad-layers.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 35-36. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA ČR GP102/09/P543
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * semiconductor structures * image contrast * dopant concentration * secondary electron emission
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350664_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190604 - 4.0205552 - UPT-D 20020102 RIV ZA eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - El-Gomati, M.
SEM visualization of doping in semiconductors.
Proceedings of 15th international congress on electron microscopy. Durban: Microscopy society of Southern Africa, 2002 - (Engelbrecht, J.; Sewell, T.; Witcomb, M.; Cross, R.; Richards, P.), s. 39 - 40. ISBN 0-620-29294-6.
[ICEM. Durban (ZA), 01.09.2002-06.09.2002]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1065901
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: dopant concentration * image contrast * secondary electron
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101165 - 5.0050995 - ÚPT 2007 cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Pokorná, Zuzana
Zobrazení lokální hustoty stavů pomocí odrazu velmi pomalých elektronů.
[Local density of states imaging using the reflection of very low energy electrons.]
PDS 2006 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronová optika. Brno: ÚPT AV ČR, 2006, s. 49-50. ISBN 80-239-7957-4.
[PDS 2006. Brno (CZ), 19.12.2006]
Grant CEP: GA ČR GA202/04/0281
Klíčová slova: local density of states * image contrast * electron reflectivity * very low energy electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140997 - 6.0049491 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Černoch, P. - Jirák, Josef - Neděla, Vilém
Signal Detection with Segmental lonization Detector.
[Detekce signálu segmentovým ionizačním detektorem.]
Proceedings of the 16th International Microscopy Congress - IMC16. Sapporo: Japanese Society of Microscopy, 2006, s. 981.
[IMC16 - International Microscopy Congress /16./. Sapporo (JP), 03.09.2006-08.09.2006]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: segmental ionization detector * image contrast * electrostatic field
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139868 - 7.0049020 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
Methods of Direct Imaging of the Local Density of States with Electrons.
[Metody přímého zobrazování hustoty stavů pomocí elektronů.]
Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 59-60. ISBN 80-239-6285-X.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
Grant CEP: GA ČR GA202/04/0281
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: local density of states * image contrast * electron reflectivity * very low energy electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139517 - 8.0049007 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Černoch, P. - Jirák, Josef
Signal Detection with Segmental Ionization Detector.
[Detekce signálu segmentovým ionizačním detektorem.]
Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 9-10. ISBN 80-239-6285-X.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: segmental ionization detector * image contrast * electrostatic field
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139504 - 9.0022550 - ÚPT 2006 RIV SI eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jirák, Josef - Černoch, P. - Autrata, Rudolf
Segmental ionization detector in ESEM.
[Segmentový ionizační detektor v ESEM.]
Proceedings - 7th Multinational Congress on Microscopy (MCM 2005). Ljubljana: Jožef Stefan Institute, 2005, s. 367-368. ISBN 961-6303-69-4.
[Multinational Congress on Microscopy /7./. Portorož (SI), 26.06.2005-30.06.2005]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: ionization detector * signal level * image contrast
Kód oboru RIV: BF - Elementární částice a fyzika vys. energií
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111278