Výsledky vyhledávání
- 1.0451941 - FZÚ 2016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Moreno, C. - Stetsovych, Oleksandr - Shimizu, T.K. - Custance, O.
Imaging three-dimensional surface objects with submolecular resolution by atomic force microscopy.
Nano Letters. Roč. 15, č. 4 (2015), s. 2257-2262. ISSN 1530-6984. E-ISSN 1530-6992
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: noncontact atomic force microscopy (NC-AFM) * submolecular resolution * three-dimensional dynamic force spectroscopy * high-resolution imaging
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 13.779, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253003 - 2.0438769 - FZÚ 2015 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Hapala, Prokop - Temirov, R. - Tautz, F.S. - Jelínek, Pavel
Origin of high-resolution IETS-STM images of organic molecules with functionalized tips.
Physical Review Letters. Roč. 113, č. 22 (2014), "226101-1"-"226101-5". ISSN 0031-9007. E-ISSN 1079-7114
Grant CEP: GA ČR(CZ) GC14-16963J
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: IETS * AFM * STM * high resolution imaging
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 7.512, rok: 2014
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0242134 - 3.0109079 - UPT-D 20040083 GB eng R - Recenze
Lencová, Bohumila
Book review: High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials.
[High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials. Edited by F. Ernst and M. Ruble. Springer Series in Materials Science. Vol. 50. Springer Verlag, Berlin, 2003.]. European Microscopy and Analysis. č. 87 (2004), s. 24. ISSN 0958-1952
Klíčová slova: High-Resolution Imaging * Spectrometry of Materials
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0016191 - 4.0079784 - FZÚ 2008 RIV DE ger P - Patentový dokument
Klein, N. - Kužel, Petr - Kadlec, Filip
Nahfeldsonde.
[Near field sensor.]
Mnichov: Deutsches Patent- und Markenamt, 2007. Vlastník: Forschungszentrum Jülich GmbH, 52428 Jülich, DE - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. Datum udělení patentu: 10.5.2007. 5 s. Číslo patentu: DE102004056241
Grant CEP: GA MŠMT LC512; GA AV ČR 1ET300100401
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: near-field imaging * dielectric sensor * high resolution imaging.
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0144353