Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0485602 - ÚFA 2018 US eng A - Abstrakt
    Ripoll, J.-F. - Santolík, Ondřej - Reeves, G. D. - Kurth, W. S. - Denton, M. - Loridan, V. - Thaller, D. - Cunningham, G. - Kletzing, C. - Turner, D. L. - Henderson, M. G. - Ukhorskiy, S. - Drozdov, A. - Villa, J. S. C. - Shprits, Y.
    Effects of whistler mode hiss waves on the radiation belts structure during quiet times.
    AGU Fall Meeting. s. l.: American Geophysical Union, 2017. SM51C-03.
    [AGU Fall Meeting 2017. 11.12.2017-15.12.2017, New Orleans]
    Institucionální podpora: RVO:68378289
    Klíčová slova: electron radiation belts * whistler mode hiss wave * Van Allen Probes
    Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
    https://agu.confex.com/agu/fm17/meetingapp.cgi/Paper/231263
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0280561
     
     
  2. 2.
    0389361 - FZÚ 2013 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Gedeon, O. - Lukeš, J. - Jurek, Karel
    Reduced Young modulus and hardness of electron irradiated binarypotassium-silicate glass.
    Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. Roč. 275, MAR (2012), s. 7-10. ISSN 0168-583X. E-ISSN 1872-9584
    Grant CEP: GA ČR GA104/09/1269
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: electron radiation * silicate glass * mechanical properties
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.266, rok: 2012
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0218242
     
     
  3. 3.
    0336108 - FZÚ 2010 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Gedeon, O. - Jurek, Karel - Drbohlav, Ivo - Ollier, N.
    Binary potassium-silicate glass irradiated with electrons.
    [Binární draselno-křemenné sklo ozářené elektrony.]
    Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. Roč. 267, č. 20 (2009), 3461-3465. ISSN 0168-583X. E-ISSN 1872-9584
    Grant CEP: GA ČR GA104/09/1269
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: electron radiation * silicate glass * volume changes * scanning electron microscopy * atomic force microscopy
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.156, rok: 2009
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180419
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.