Výsledky vyhledávání
- 1.0335270 - ÚPT 2010 RIV AT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Schauer, P. - Schauer, Petr - Kuřitka, I. - Nešpůrek, Stanislav
Cathodoluminescence study of electron beam formed defects in polysilanes.
MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Graz: Verlag der Technischen Universität, 2009, Vol. 3: 383-384. ISBN 978-3-85125-062-6.
[MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./. Graz (AT), 30.08.2009-04.09.2009]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511; CEZ:AV0Z40500505
Klíčová slova: cathodoluminescence * electron beam degradation * poly[methyl(phenyl)silane] * PMPSi * silicon polymers
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/55161.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179779 - 2.0331835 - FZÚ 2010 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Lesiak, B. - Zemek, Josef - Houdková, Jana - Jiříček, Petr - Jozwik, A.
XPS and XAES of polyethylenes aided by line shape analysis: The effct of electron irradiation.
[Analýza tvaru XPS a XAES spekter polyetylénů: Vliv ozáření elektrony.]
Polymer Degradation and Stability. Roč. 94, č. 10 (2009), s. 1714-1721. ISSN 0141-3910. E-ISSN 1873-2321
Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: XPS * XAES * line shape analysis * electron beam degradation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.154, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0177246 - 3.0092592 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Horák, Petr - Schauer, Petr
Analysis of Electron Beam Degraded poly[methyl(phenyl)silylene].
[Analýza poly[methyl(phenyl)silylene] degradovaného elektronovým svazkem.]
Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 157-258. ISBN 978-80-239-9397-4.
[Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: poly[methyl(phenyl)silylene] * polysilanes * PSi * cathodoluminescence * electron beam degradation
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152870