Výsledky vyhledávání
- 1.0543080 - FZÚ 2022 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
Staněk, J. - Kopeček, Jaromír - Král, Petr - Karafiátová, I. - Seitl, F. - Beneš, V.
Comparison of segmentation of 2D and 3D EBSD measurements in polycrystalline materials.
Kovové materiály. Roč. 58, č. 5 (2020), s. 301-319. ISSN 0023-432X. E-ISSN 1338-4252
Grant CEP: GA ČR GC17-00393J
Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:68081723
Klíčová slova: microstructure * electron backscatter diffraction (EBSD) * grain boundaries * misorientation * tessellation
Obor OECD: Materials engineering; Materials engineering (UFM-A)
Impakt faktor: 1.068, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0322251Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0543080.pdf 1 3 MB Vydavatelský postprint povolen - 2.0340746 - ÚPT 2010 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Man, O. - Pantělejev, L. - Frank, Luděk
Grain Contrast Imaging in UHV SLEEM.
Materials Transactions. Roč. 51, č. 2 (2010), s. 292-296. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * electron backscatter diffraction (EBSD) * grain contrast * ultra-fine grained materials
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 0.779, rok: 2010
http://www.jim.or.jp/journal/e/51/02/292.html
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0183927