Výsledky vyhledávání
- 1.0350664 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mika, Filip - Hovorka, Miloš - Frank, Luděk
Imaging of dopants under presence of surface ad-layers.
Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 35-36. ISBN 978-80-254-6842-5.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
Grant CEP: GA ČR GP102/09/P543
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * semiconductor structures * image contrast * dopant concentration * secondary electron emission
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350664_01.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190604 - 2.0205552 - UPT-D 20020102 RIV ZA eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - El-Gomati, M.
SEM visualization of doping in semiconductors.
Proceedings of 15th international congress on electron microscopy. Durban: Microscopy society of Southern Africa, 2002 - (Engelbrecht, J.; Sewell, T.; Witcomb, M.; Cross, R.; Richards, P.), s. 39 - 40. ISBN 0-620-29294-6.
[ICEM. Durban (ZA), 01.09.2002-06.09.2002]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1065901
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: dopant concentration * image contrast * secondary electron
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101165