Výsledky vyhledávání
- 1.0584401 - ÚPT 2024 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Řeřucha, Šimon - Holá, Miroslava - Lazar, Josef - Mikel, Břetislav - Číp, Ondřej
Charakterizace a eliminace termomechanických vlivů v interferometrickém měření délky.
[Characterization and elimination of thermomechanical effects in interferometric length measurement.]
LA63. Sborník příspěvků multioborové konference LASER63. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2023 - (Mikel, B.), s. 89-91. ISBN 978-80-87441-32-9.
[LASER63. Třešť (CZ), 18.10.2023-20.10.2023]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) FW03010687; GA TA ČR(CZ) TN02000020; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT(CZ) EF16_026/0008460
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: dimensional metrology * laser interferometry * zero-drift * thermal compensation
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0352350 - 2.0580429 - ÚPT 2024 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Řeřucha, Šimon - Holá, Miroslava - Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Mikel, Břetislav
Optická a elektronická soustava laserového interferometru pro měření délek v řádu jednotek metrů.
[Optical and electronic system of a laser interferometer for measurement lengths in the metre range.]
Interní kód: APL-2023-10 ; 2023
Technické parametry: Rozsah měření >3 m, rozlišení měření 10pm, šum 0.12nm @ 10ms, šířka pásma detekce interferenčního signálu >1MHz, typ detekce: homodynní, přepočtená rychlost pohybu >35 mm/sec, relativní nejistota určení indexu lomu 0,21ppm, vlnová délka 633nm, relativní stabilita optické frekvence <0,025ppm @ 1hodina, absolutní určení vlnové délky <0,01 ppm.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Šimon Řeřucha, Ph.D., res@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) FW03010687
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: laser interferometer * dimensional metrology * inner dimension measurement * refractometer * homodyne interferometry * metre scale dimensional measurement
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0349203 - 3.0567828 - ÚPT 2023 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Holá, Miroslava - Mikel, Břetislav - Hrabina, Jan - Řeřucha, Šimon - Oulehla, Jindřich - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
Compact dione laser system for dimensional metrology.
Proceedings of ADEPT - ADEPT 2022. Žilina: University of Žilina, 2022 - (Feiler, M.; Ziman, M.; Kováčová, S.; Kováč, jr., J.), s. 197-200. ISBN 978-80-554-1884-1.
[International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies /10./ - ADEPT 2022. Tatranská Lomnica (SK), 20.06.2022-24.06.2022]
Grant CEP: GA MPO(CZ) FV10336; GA TA ČR(CZ) TN01000008; GA TA ČR(CZ) FW03010687; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT(CZ) EF16_026/0008460
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: diode laser * iodine stabilization * dimensional metrology * DBR
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0339086 - 4.0555695 - ÚFP 2022 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Arezki, Y. - Su, R. - Heikkinen, V. - Leprete, F. - Psota, Pavel - Bitou, Y. - Schober, C. - Mehdi-Souzani, C. - Alzahrani, B. A. M. - Zhang, X. - Kondo, Y. - Prüss, J. - Lédl, Vít - Anwer, N. - Bouazizi, M. L. - Leach, R. - Nouira, H.
Traceable reference full metrology chain for innovative aspheric and freeform optical surfaces accurate at the nanometer level.
Sensors. Roč. 21, č. 4 (2021), s. 1-19, č. článku 1103. E-ISSN 1424-8220
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: Aspheric and freeform optical elements * Dimensional metrology * Measured data evaluation * Robust reference minimum zone (Hybrid Trust Region) fitting * Ultra-high precision measuring machine * Uncertainty
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 3.847, rok: 2021
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/1424-8220/21/4/1103
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0330159 - 5.0519715 - ÚPT 2020 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Lazar, Josef
SMV-2019-70: Smluvní výzkum zaměřený na vývoj a výrobu vzorku interferometru pro souřadnicové odměřování ve vakuu.
[SMV-2019-70: Contract research focused on the development and production of a sample of interferometer for coordinate measuring in vacuum.]
Brno: Antonín Schenk s.r.o., 2019. 4 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: laser dimensional metrology * interferometry
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0304710 - 6.0492800 - ÚTAM 2019 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Ferrucci, M. - Heřmánek, P. - Ametova, E. - Sbettega, E. - Vopálenský, Michal - Kumpová, Ivana - Vavřík, Daniel - Carmignato, S. - Craeghs, T. - Dewulf, W.
Measurement of the X-ray computed tomography instrument geometry by minimization of reprojection errors - implementation on experimental data.
Precision Engineering. Roč. 54, October (2018), s. 107-117. ISSN 0141-6359. E-ISSN 1873-2372
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1219
GRANT EU: European Commission(XE) ATCZ38 - Com3d-XCT
Klíčová slova: X-ray computed tomography * dimensional metrology * instrument alignment
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 2.685, rok: 2018
https://doi.org/10.1016/j.precisioneng.2018.05.007
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0286186 - 7.0480451 - ÚPT 2018 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Řeřucha, Šimon - Yacoot, A. - Pham, Minh Tuan - Čížek, Martin - Hucl, Václav - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
Laser source for dimensional metrology: investigation of an iodine stabilized system based on narrow linewidth 633 nm DBR diode.
Measurement Science and Technology. Roč. 28, č. 4 (2017), s. 1-11, č. článku 045204. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
Grant CEP: GA ČR GB14-36681G; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01; GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: optical metrology * DBR laser diode * frequency stabilization * laser interferometry * dimensional metrology * iodine stabilization * displacement measurement
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 1.685, rok: 2017
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0276231 - 8.0421265 - ÚPT 2014 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lazar, Josef - Hrabina, Jan - Holá, Miroslava - Vychodil, M.
Pokročilé interferometrické systémy pro měření v nanotechnologiích.
[Advanced Laser Measuring Systems in Nanometrology.]
Sborník příspěvků multioborové konference LASER53. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i, 2013, s. 53-54. ISBN 978-80-87441-10-7.
[LASER53. Třešť (CZ), 30.10.2013-01.11.2013]
Grant CEP: GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: interferometry * nanometrology * positioning * dimensional metrology
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227655