Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0580429 - ÚPT 2024 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Řeřucha, Šimon - Holá, Miroslava - Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Mikel, Břetislav
    Optická a elektronická soustava laserového interferometru pro měření délek v řádu jednotek metrů.
    [Optical and electronic system of a laser interferometer for measurement lengths in the metre range.]
    Interní kód: APL-2023-10 ; 2023
    Technické parametry: Rozsah měření >3 m, rozlišení měření 10pm, šum 0.12nm @ 10ms, šířka pásma detekce interferenčního signálu >1MHz, typ detekce: homodynní, přepočtená rychlost pohybu >35 mm/sec, relativní nejistota určení indexu lomu 0,21ppm, vlnová délka 633nm, relativní stabilita optické frekvence <0,025ppm @ 1hodina, absolutní určení vlnové délky <0,01 ppm.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Šimon Řeřucha, Ph.D., res@isibrno.cz.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) FW03010687
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: laser interferometer * dimensional metrology * inner dimension measurement * refractometer * homodyne interferometry * metre scale dimensional measurement
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0349203
     
     
  2. 2.
    0548884 - ÚPT 2022 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Řeřucha, Šimon - Holá, Miroslava - Šarbort, Martin - Kůr, J. - Konečný, P. - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
    Laser-interferometric nanometre comparator for length gauge calibration in advanced manufacturing.
    2021 International Conference on Electrical, Computer, Communications and Mechatronics Engineering (ICECCME). New York: IEEE, 2021, (2021). ISBN 978-166541262-9.
    [International Conference on Electrical, Computer, Communications and Mechatronics Engineering (ICECCME) 2021. Mauritius (MU), 07.10.2021-08.10.2021]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) FW03010687; GA TA ČR(CZ) TN01000008; GA MŠMT(CZ) EF16_026/0008460; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MPO(CZ) FV10336
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: length calibration * laser interferometry * optical metrology * dimensional measurement * advanced manufacturing
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    https://ieeexplore.ieee.org/document/9590989/
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326436
     
     
  3. 3.
    0543086 - ÚPT 2022 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Řeřucha, Šimon - Holá, Miroslava - Šarbort, Martin - Hrabina, Jan - Oulehla, Jindřich - Číp, Ondřej - Lazar, Josef
    Compact differential plane interferometer with in-axis mirror tilt detection.
    Optics and Lasers in Engineering. Roč. 141, June (2021), č. článku 106568. ISSN 0143-8166. E-ISSN 1873-0302
    Grant CEP: GA MPO(CZ) FV10336; GA TA ČR TE01020233; GA TA ČR(CZ) TN01000008; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT(CZ) EF16_026/0008460
    GRANT EU: European Commission(XE) 17IND03 - LaVa
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Laser interferometry * Optical metrology * Dimensional measurement * Common path interferometer * Differential interferometer * Tilt compensation
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Impakt faktor: 5.666, rok: 2021
    Způsob publikování: Open access
    https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0143816621000385
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0320376
     
     
  4. 4.
    0452397 - ÚPT 2016 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Lazar, Josef - Holá, Miroslava - Hrabina, Jan - Oulehla, Jindřich - Číp, Ondřej - Vychodil, M. - Sedlář, P. - Provazník, M.
    Pokročilé interferometrické systémy pro měření polohy v nanometrologii.
    [Advanced interferometry systems for dimensional measurement in nanometrology.]
    Jemná mechanika a optika. Roč. 60, č. 1 (2015), s. 14-17. ISSN 0447-6441
    Grant CEP: GA ČR GB14-36681G; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TA01010995; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: interferometry systems * dimensional measurement * nanometrology
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253412
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.