Výsledky vyhledávání
- 1.0495539 - ÚFM 2019 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Musiienko, A. - Grill, R. - Pekárek, J. - Belas, E. - Praus, P. - Pipek, J. - Dědic, V. - Elhadidy, Hassan
Characterization of polarizing semiconductor radiation detectors by laser-induced transient currents.
Applied Physics Letters. Roč. 111, č. 8 (2017), č. článku 082103. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
Institucionální podpora: RVO:68081723
Klíčová slova: cdznte detectors * cdte * Electric current measurement
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 3.495, rok: 2017
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0289762 - 2.0454454 - ÚFA 2016 RIV cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
Baše, Jiří - Hruška, František - Truhlík, Vladimír - Šmilauer, Jan
Vícekanálový analyzátor nízkoenergetického plazmatu.
[multi-channel low-energy plasma analyzer.]
2015. Vlastník: Ústav fyziky atmosféry AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 03.08.2015. Číslo vzoru: 28516
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LH11123
Institucionální podpora: RVO:68378289
Klíčová slova: plasma analyzer * plasma measurement * space instrumentation * RESONANCE mission * low current measurement
Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
http://spisy.upv.cz/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0028/uv028516.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0255149 - 3.0399772 - ÚJF 2014 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Vitner, Jan - Kučírek, Václav - Švider, Martin
Měřící systém proudu svazku stínícími clonami.
[Beam Current Measuring System of the Shadowing Shields.]
Interní kód: TAND-F3 ; 2013
Technické parametry: Vitner Jan
Ekonomické parametry: možnosti přesnějšího vyhodnocování a měření
Grant CEP: GA MŠMT(XE) LM2011019
Institucionální podpora: RVO:61389005
Klíčová slova: low current measurement * beam measurement
Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227019 - 4.0390975 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Bok, Jan - Horáček, Miroslav - Král, Stanislav - Kolařík, Vladimír - Matějka, František
Analysis of electron current instability in E-beam writer.
NANOCON 2012, 4th International Conference Proceedings. Ostrava: TANGER Ltd, 2012, s. 295-299. ISBN 978-80-87294-32-1.
[NANOCON 2012. International Conference /4./. Brno (CZ), 23.10.2012-25.10.2012]
Grant CEP: GA MŠMT ED0017/01/01; GA TA ČR TE01020118; GA MPO FR-TI1/576
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron beam * current measurement * current drift and noise * fourier analysis
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0219831 - 5.0369352 - ÚFP 2012 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Stelmashuk, Vitaliy - van Deursen, A.P.J.
Passive integrator for ILDAS project.
Proceedings of the 10th International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2011).. York: IEEE Xplore, 2011, s. 37-40. IEEE. ISBN 978-1-4577-1709-3.
[EMC Europe 2011 York /10th./. York (GB), 26.09.2011-30.09.2011]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20430508
Klíčová slova: Passive integrator * current measurement
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0203438 - 6.0134048 - FZU-D 20020336 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Rezek, Bohuslav - Mates, Tomáš - Šípek, Emil - Stuchlík, Jiří - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
Influence of combined AFM/current measurement on local electronic properties of silicon thin films.
Journal of Non-Crystalline Solids. 299-302, - (2002), s. 360-364. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Klíčová slova: silicon thin films * electronic properties * combined AFM/current measurement
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.435, rok: 2002
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031989