Výsledky vyhledávání
- 1.0553256 - ÚPT 2022 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Allaham, Mohammad M. - Buchner, P. - Schreiner, R. - Knápek, A. … celkem 6 autorů
Testing the performance of Murphy-Good plots when applied to current-voltage characteristics of Si field electron emission tips.
International Vacuum Nanoelectronics Conference. In: 2021 34th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). New York: IEEE, 2021 - (Purcell, S.; Mazellier, J.), (2021), s. 140-141. ISBN 978-1-6654-2589-6. ISSN 2380-6311.
[International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC) /34./. online (FR), 05.07.2021-09.07.2021]
Grant CEP: GA MV(CZ) VI20192022147
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Silicon field emission tips * Murphy-Good plot * electron collection efficiency * array characterization parameters * Silicon field enhancement factor
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
https://ieeexplore.ieee.org/document/9600690
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0328237 - 2.0509479 - FZÚ 2020 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Dubecký, F. - Zat'ko, B. - Kolesár, V. - Kindl, Dobroslav - Hubík, Pavel - Gombia, E. - Dubecký, M.
Charge collection efficiency of Pt vs. Mg contacts on semi-insulating GaAs.
Applied Surface Science. Roč. 467, Feb (2019), s. 1219-1225. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: semi-insulating GaAs * metal-semiconductor contact * metal-oxide-semiconductor contact * charge collection efficiency
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 6.182, rok: 2019
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2018.10.164
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300223 - 3.0481585 - ÚPT 2018 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
STEM modes in SEM – simulations and experiments.
13th Multinational Congress on Microscopy: Book of Abstracts. Zagreb: Ruder Bošković Institute, Croatian Microscopy Society, 2017 - (Gajović, A.; Weber, I.; Kovačević, G.; Čadež, V.; Šegota, S.; Peharec Štefanić, P.; Vidoš, A.), s. 140-141. ISBN 978-953-7941-19-2.
[Multinational Congress on Microscopy /13./. Rovinj (HR), 24.09.2017-29.09.2017]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: STEM detector * trajectory simulations * cathode lens * collection efficiency
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0277129 - 4.0367297 - FZÚ 2013 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Affolder, A. - Aleev, A. - Allport, P.P. - Böhm, Jan - Mikeštíková, Marcela - Popule, Jiří - Šícho, Petr - Tomášek, Michal - Vrba, Václav … celkem 260 autorů
Silicon detectors for the sLHC.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Roč. 658, č. 1 (2011), s. 11-16. ISSN 0168-9002. E-ISSN 1872-9576
Grant CEP: GA MŠMT LA08032; GA ČR GA202/05/0653; GA MŠMT 1P04LA212
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100502
Klíčová slova: silicon particle detectors * radiation damage * irradiation * charge collection efficiency
Kód oboru RIV: BF - Elementární částice a fyzika vys. energií
Impakt faktor: 1.207, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202033 - 5.0357594 - ÚIACH 2011 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Motyka, K. - Mikuška, Pavel - Večeřa, Zbyněk
Application of wet effluent diffusion denuder for measurement of uptake coefficient of gaseous pollutants.
Talanta. Roč. 84, č. 2 (2011), s. 519-523. ISSN 0039-9140. E-ISSN 1873-3573
Grant CEP: GA MŽP SP/1A3/148/08; GA MŽP SP/1A3/55/08; GA MŽP SP/1B7/189/07
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z40310501
Klíčová slova: collection efficiency * wet effluent diffusion denuder * uptake coefficient
Kód oboru RIV: CB - Analytická chemie, separace
Impakt faktor: 3.794, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0195835 - 6.0353090 - ÚCHP 2011 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Štefancová, Lucia - Schwarz, Jaroslav - Mäkelä, T. - Hillamo, R. - Smolík, Jiří
Comprehensive Characterization of Original 10-stage and 7-stage Modified Berner Type Impactors.
Aerosol Science and Technology. Roč. 45, č. 1 (2011), s. 88-100. ISSN 0278-6826. E-ISSN 1521-7388
Grant CEP: GA ČR GA205/09/2055; GA MŠMT OC 106; GA MŠMT ME 941
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z40720504
Klíčová slova: cascade impactor * collection efficiency * losses
Kód oboru RIV: CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
Impakt faktor: 2.667, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192431 - 7.0315458 - ÚPT 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Matsuda, K. - Frank, Luděk
Low Energy Electron Microscopy in Materials Science.
[Nízko energiová elektronová mikroskopie v materiálových vědách.]
Proceedings of the 11th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2008 - (Mika, F.), s. 85-86. ISBN 978-80-254-0905-3.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /11./. Skalský dvůr (CZ), 14.07.2008-18.07.2008]
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: collection efficiency * cathode lens mode * material contrast
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165656 - 8.0315454 - ÚPT 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Dvořáková, Marie - Müllerová, Ilona
Signal Collection with Secondary Electron Detectors in SEM.
[Detekce signálu v rastrovacím elektronovém mikroskopu pomocí detektorů sekundárních elektronů.]
Proceedings of the 11th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2008 - (Mika, F.), s. 61-64. ISBN 978-80-254-0905-3.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /11./. Skalský dvůr (CZ), 14.07.2008-18.07.2008]
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: secondary electrons * collection efficiency * detectors * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165653 - 9.0308571 - ÚPT 2008 RIV CZ eng B - Monografie kniha jako celek
Konvalina, Ivo
Quantification of Detection Efficiency of the Detector of Secondary Electrons in SEM.
[Kvantifikace detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v REM.]
Brno: Brno University of Technology, 2008. 30 s. Vědecké spisy VUT , Edice PhD Thesis, sv. 455. ISBN 978-80-214-3622-0. ISSN 1213-4198
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: collection efficiency * ET detector * detector of secondary electrons * electrostatic field * magnetic field * simulation of trajectories
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0161006 - 10.0308565 - ÚPT 2008 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona
Obrazy ze sekundárních elektronů v rastrovacich elektronových mikroskopech.
[Micrographs of secondary electrons in the scanning electron microscopes.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 53, č. 2 (2008), s. 57-59. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: ET detector * secondary electrons * collection efficiency * electrostatic and magnetic field
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0161002