Výsledky vyhledávání
- 1.0481585 - ÚPT 2018 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
STEM modes in SEM – simulations and experiments.
13th Multinational Congress on Microscopy: Book of Abstracts. Zagreb: Ruder Bošković Institute, Croatian Microscopy Society, 2017 - (Gajović, A.; Weber, I.; Kovačević, G.; Čadež, V.; Šegota, S.; Peharec Štefanić, P.; Vidoš, A.), s. 140-141. ISBN 978-953-7941-19-2.
[Multinational Congress on Microscopy /13./. Rovinj (HR), 24.09.2017-29.09.2017]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: STEM detector * trajectory simulations * cathode lens * collection efficiency
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0277129 - 2.0436878 - ÚPT 2016 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk - Nebesářová, Jana - Vancová, Marie - Paták, Aleš - Müllerová, Ilona
Imaging of tissue sections with very slow electrons.
Ultramicroscopy. Roč. 148, JAN 2015 (2015), s. 146-150. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
Klíčová slova: Biological STEM * Ultralow energy STEM * Tissue sections * Cathode lens * Depolymerisation
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.874, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0240520 - 3.0436805 - ÚPT 2015 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona - Mikmeková, Šárka - Mikmeková, Eliška - Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
Exploitation of Contrasts in Low Energy SEM to Reveal True Microstructure.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 20, S3 (2014), s. 858-859. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * contrast * cathode lens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.872, rok: 2014
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0240464 - 4.0423862 - ÚPT 2014 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pokorná, Zuzana - Knápek, Alexandr
Scanning Low Energy Electron Microscopy for the determination of crystallographic orientation of polycrystalline metal grains.
Microscopy conference (MC) 2013. Proceedings. Vol. 2. Regensburg: University of Regensburg, 2013, s. 329-330.
[Microscopy Conference 2013. Regensburg (DE), 25.08.2013-30. 08.2013]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SLEEM * Crystallographic orientation * polycrystalline metal * cathode lens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0229924 - 5.0422788 - ÚPT 2014 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Frank, Luděk - Nebesářová, Jana - Vancová, Marie - Paták, Aleš - Müllerová, Ilona
Very low energy STEM for biology.
Mikroskopie 2013. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2013, s. 19.
[Mikroskopie 2013. Lednice (CZ), 13.05.2013-14.05.2013]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA ČR GAP108/11/2270; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
Klíčová slova: tissue sections * ultra-low-energy STEM * cathode lens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0229236 - 6.0420896 - ÚPT 2014 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Mikmeková, Šárka - Yamada, K. - Noro, H.
TRIP steel microstructure visualized by slow and very slow electrons.
Microscopy. Roč. 62, č. 6 (2013), s. 589-596. ISSN 2050-5698. E-ISSN 2050-5701
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SLEEM * SEM * crystallographic contrast * surface sensitivity * multi-phase steels * cathode lens mode
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227360 - 7.0385193 - ÚPT 2013 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk - Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona - Pokorná, Zuzana
Scanning Electron Microscopy with Samples in an Electric Field.
Materials. Roč. 5, č. 12 (2012), s. 2731-2756. E-ISSN 1996-1944
Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA TA ČR TE01020118; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscopy * slow electrons * low energy SEM * low energy STEM * cathode lens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.247, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0214527 - 8.0379933 - ÚPT 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo - Mika, Filip
Collection contrast in the immersion objective lens of the scanning electron microscope.
Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2012 - (Mika, F.), -, -, s. 49-50. ISBN 978-80-87441-07-7.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./. Skalský dvůr (CZ), 25.06.2012-29.06.2012]
Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscope * cathode lens * secondary electrons * backscattered electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210780 - 9.0379918 - ÚPT 2013 RIV AU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pokorná, Zuzana - Mikmeková, Šárka - Matsuda, K. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Backscattered electrons in examination of materials.
Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 940:1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
[Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscope * backscattered electrons * cathode lens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210769 - 10.0379917 - ÚPT 2012 RIV AU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Very Low Energy STEM and Imaging of Free-standing Foils.
Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 411:1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
[Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * cathode lens * transmitted electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210768