Výsledky vyhledávání
- 1.0549777 - ÚFP 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Procháska, František - Karabyn, Vasyl - Vlček, Ivan - Zobač, Martin - Nejezchleb, K.
Funkční vzorek bezkontaktního korekčního nástroje na principu fokusace IBF.
[Functional sample of a non-contact correction tool based on focused IBF.]
Interní kód: TN01000008/02-V009 ; 2021
Technické parametry: Délka nástroje = 43 mm, Průměr nástroje = 98 mm, Počet elektrod: 3, Pracovní vzdálenost: 5 mm, Rozsah napětí: + 0 až +1250 V (brzdný režim), Parametry iontového zdroje: Beam 1000 V, Acc -500 V, průtok plynu Ar 1,5 sccm, výkon RF zdroje 75 W
Ekonomické parametry: Nejsou vyčísleny
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:61389021 ; RVO:68081731
Klíčová slova: Ion beam figuring * Electrostatic lens * Ion beam focusing
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0325686 - 2.0361433 - FZÚ 2012 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Chalupský, Jaromír - Boháček, Pavel - Hájková, Věra - Hau-Riege, S.P. - Heimann, P.A. - Juha, Libor - Krzywinski, J. - Messerschmidt, M. - Moeller, S.P. - Nagler, B. - Rowen, M. - Schlotter, W.F. - Swiggers, M.L. - Turner, J.J.
Comparing different approaches to characterization of focused X-ray laser beams.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Roč. 631, č. 1 (2011), s. 130-133. ISSN 0168-9002. E-ISSN 1872-9576
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA ČR GAP208/10/2302; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAAX00100903; GA MŠMT(CZ) ME10046
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: X-ray laser * X-ray ablation * beam focusing * beam characterization * beam profile measurement
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.207, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0198745