Výsledky vyhledávání
- 1.0597951 - ÚFM 2025 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
Knápek, A. - Allaham, Mohammad M. - Košelová, Z. - Burda, D. - Podstránský, J. - Mousa, Marwan S. - Sobola, Dinara
Comparative analysis of surface layer functionality in STM and AFM probes: Effects of coating on emission characteristics.
Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis. Roč. 75, č. 4 (2024), s. 268-274. ISSN 1335-3632. E-ISSN 1339-309X
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) FW03010504
Institucionální podpora: RVO:68081723
Klíčová slova: atomic-force microscopy * scanning tunneling microscope * field-emission * electron * scanning probe microscopy * field emission characteristics * probe coating * STM tungsten-graphite probes * Akiyama-gold cathodes
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 1, rok: 2023
Způsob publikování: Omezený přístup
https://sciendo.com/article/10.2478/jee-2024-0033
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0355732 - 2.0585608 - FZÚ DATA Vědecká data 2024
Correa, Cinthia Antunes - More Chevalier, Joris - Hruška, Petr - Poupon, Morgane - Novotný, Michal - Minárik, P. - Hubík, Pavel - Lukáč, František - Fekete, Ladislav - Prokop, Dejan - Hanuš, J. - Valenta, J. - Fitl, Přemysl - Lančok, Ján
Dataset for Microstructure and physical properties of black aluminum antireflective films.
Popis: The files are related to the manuscript „Microstructure and physical properties of Black-Aluminum antireflective films“ and are organized in the sequence of appearance in the manuscript. The nomenclature of the files follows the sequence:
Figure, number of the figure appearing in the manuscript (from 1 – 7), type of data (XRD, AFM, TEM, EDX, PALS, Reflectance, Carrier concentration, Electrical mobility, or resistivity), thin film sample related to (R-Al or B-Al), film thickness (60, 180, 250, 320, or 410 nm).
TEM image files are raw, as collected, while the ones in the manuscript were cropped to show the differences between the films.
Klíčová slova: powder x-ray diffraction * atomic force microscopy * transmission electron microscopy * energy dispersive x-ray analysis * positron annihilation spectroscopy * reflectivity, resistivity * hall measurements
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.); Materials engineering (UFP-V)
DOI: https://doi.org/10.57680/asep.0585608
Handle: https://hdl.handle.net/11104/0353281
Vkladatel: admin
Datum publikování: 2.5.2024
Publikace ASEP:
Microstructure and physical properties of black-aluminum antireflective films
Licence: CC BY 4.0 - Uveďte původ Mezinárodní licence
Název souboru Staženo Velikost Komentář Přístup Data.zip Přehled souborů 34 47.5 MB povolen Grant CEP: GA ČR GA23-05002S; GA MŠMT(CZ) EH22_008/0004596; GA MŠMT LM2023051
Institucionální podpora: RVO:68378271Institucionální podpora: RVO:61389021 - 3.0579997 - ÚFP 2024 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Karlusic, M. - Rymzhanov, R. A. - O'Connell, J. H. - Bröckers, L. - Luketic, K.T. - Siketić, Z. - Fazinic, S. - Dubček, P. - Jakšic, M. - Provatas, G. - Medvedev, Nikita - Volkov, A.E. - Schleberger, M.
Mechanisms of surface nanostructuring of Al2O3 and MgO by grazing incidence irradiation with swift heavy ions.
Surfaces and Interfaces. Roč. 27, December (2021), č. článku 101508. ISSN 2468-0230. E-ISSN 2468-0230
Grant CEP: GA MŠMT LTT17015; GA MŠMT(CZ) LM2015083
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: Atomic force microscopy * Ion irradiation * Irradiation effects * Md simulation * Swift heavy ion
Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
Impakt faktor: 6.137, rok: 2021
Způsob publikování: Omezený přístup
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S246802302100585X?via%3Dihub
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0348786 - 4.0578172 - ÚFM 2024 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Pongrácz, Jakub - Vacek, P. - Gröger, Roman
Recombination activity of threading dislocations in MOVPE-grown AlN/Si {111} films etched by phosphoric acid.
Journal of Applied Physics. Roč. 134, č. 19 (2023), č. článku 195704. ISSN 0021-8979. E-ISSN 1089-7550
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) FW01010183; GA MŠMT(CZ) EF18_053/0016933
Výzkumná infrastruktura: CzechNanoLab - 90110
Institucionální podpora: RVO:68081723
Klíčová slova: Crystallographic defects * Crystal lattices * Crystal structure * Epitaxy * Etching * Atomic force microscopy
Obor OECD: Atomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonances, Mössbauer effect)
Impakt faktor: 2.7, rok: 2023
Způsob publikování: Omezený přístup
https://pubs.aip.org/aip/jap/article-abstract/134/19/195704/2921456/Recombination-activity-of-threading-dislocations?redirectedFrom=fulltext
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0347224 - 5.0574597 - FZÚ 2024 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Liao, M. - Nicolini, Paolo - Polcar, T.
Separating anisotropic and isotropic friction between atomic force microscope tips and atomically flat surfaces.
Physical Review B. Roč. 107, č. 19 (2023), č. článku 195442. ISSN 2469-9950. E-ISSN 2469-9969
Výzkumná infrastruktura: e-INFRA CZ - 90140
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: friction * layered crystals * surfaces * atomic force microscopy * materials modeling * condensed matter * Materials & Applied Physics
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 3.2, rok: 2023
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1103/PhysRevB.107.195442
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0346762 - 6.0574514 - BFÚ 2024 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Goswami, Pratik - Šislerová, Lucie - Dobrovolná, Michaela - Havlík, J. - Šťastný, J. - Brázda, Václav
Interaction of C-terminal p53 isoforms depends strongly upon DNA sequence and topology.
Biochimie. Roč. 208, MAY 2023 (2023), s. 93-99. ISSN 0300-9084. E-ISSN 1638-6183
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA22-21903S
Institucionální podpora: RVO:68081707
Klíčová slova: p53 isoforms * G-quadruplex * Atomic force microscopy * p53-DNA binding * Supercoiled DNA
Obor OECD: Biochemistry and molecular biology
Impakt faktor: 3.3, rok: 2023
Způsob publikování: Omezený přístup
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0300908422003352?via%3Dihub
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0350064 - 7.0574376 - FZÚ 2024 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Ukraintsev, Egor - Houska, Václav - Vacek, Jaroslav - Rezek, B.
Racemic dimers as models of chiral macrocycles self-assembled on pyrolytic graphite.
Carbon Trends. Roč. 12, Sept. (2023), č. článku 100284. ISSN 2667-0569. E-ISSN 2667-0569
Grant CEP: GA MŠMT LM2023051; GA ČR(CZ) GA20-23566S
Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:61388963
Klíčová slova: chiral macrocycles * self-assembly * molecular wires * atomic force microscopy * submolecular resolution * image processing * simulations
Obor OECD: Computer sciences, information science, bioinformathics (hardware development to be 2.2, social aspect to be 5.8); Physical chemistry (UOCHB-X)
Impakt faktor: 3.1, rok: 2023
Způsob publikování: Open access
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0344708Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0574376.pdf 1 11.4 MB CC licence Vydavatelský postprint povolen - 8.0571530 - BFÚ 2024 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Hasoň, Stanislav - Ostatná, Veronika - Fojta, Miroslav - Fojt, Lukáš
Arrangements of DNA purine bases on pyrolytic graphite electrode surface. Electrochemical characterization and atomic force microscopy imaging.
Electrochimica acta. Roč. 441, FEB 10 2023 (2023), č. článku 141772. ISSN 0013-4686. E-ISSN 1873-3859
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA20-03187S
Institucionální podpora: RVO:68081707
Klíčová slova: Adenine and guanine adsorption * Guanine stacking on pyrolytic graphite * Voltammetric and capacitance measurements * Atomic force microscopy * Experiment and theoretical calculation
Obor OECD: Electrochemistry (dry cells, batteries, fuel cells, corrosion metals, electrolysis)
Impakt faktor: 5.5, rok: 2023
Způsob publikování: Omezený přístup
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0013468622019284?via%3Dihub
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0346069 - 9.0570504 - FGÚ 2024 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Vondrášek, David - Hadraba, Daniel - Přibyl, J. - Eckhardt, Adam - Ošťádal, M. - Lopot, F. - Jelen, K. - Doubková, Martina - Knitlová, Jarmila - Novotný, T. - Janáček, Jiří
Microstructural Analysis of Collagenous Structures in Relapsed Clubfoot Tissue.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 29, č. 1 (2023), s. 265-272. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA MZd(CZ) NV17-31564A; GA MZd(CZ) NU22-10-00072; GA MŠMT(CZ) LM2018129; GA MŠMT(CZ) EF18_046/0016045
Výzkumná infrastruktura: CIISB II - 90127
Institucionální podpora: RVO:67985823
Klíčová slova: atomic force microscopy * label-free imaging * mechanical properties * multi-modal analysis * orthopedic surgery * relapsed clubfoot * talipes equinovarus congenitus
Obor OECD: Orthopaedics
Impakt faktor: 2.9, rok: 2023
Způsob publikování: Open access
https://doi.org/10.1093/micmic/ozac012
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0341800 - 10.0566892 - ÚJF 2023 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Souli, M. P. - Nikitaki, Z. - Puchalská, M. - Pachnerová Brabcová, Kateřina - Spyratou, E. - Kote, P. - Efstathopoulos, E. P. - Hada, M. - Georgakilas, A. G. - Sihver, Lembit
Clustered DNA Damage Patterns after Proton Therapy Beam Irradiation Using Plasmid DNA.
International Journal of Molecular Sciences. Roč. 23, č. 24 (2022), č. článku 15606. ISSN 1422-0067. E-ISSN 1422-0067
Institucionální podpora: RVO:61389005
Klíčová slova: proton therapy beam * clustered DNA damage * linear energy transfer (LET) * Agarose Gel Electrophoresis (AGE) * Atomic Force Microscopy (AFM) * damage biomarkers * scavenging capacity * biodosimetry
Obor OECD: Biochemistry and molecular biology
Impakt faktor: 5.6, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
https://doi.org/10.3390/ijms232415606
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0338159Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0566892.pdf 2 6.6 MB Open Access - CC licence Vydavatelský postprint povolen