Výsledky vyhledávání
- 1.0566892 - ÚJF 2023 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Souli, M. P. - Nikitaki, Z. - Puchalská, M. - Pachnerová Brabcová, Kateřina - Spyratou, E. - Kote, P. - Efstathopoulos, E. P. - Hada, M. - Georgakilas, A. G. - Sihver, Lembit
Clustered DNA Damage Patterns after Proton Therapy Beam Irradiation Using Plasmid DNA.
International Journal of Molecular Sciences. Roč. 23, č. 24 (2022), č. článku 15606. E-ISSN 1422-0067
Institucionální podpora: RVO:61389005
Klíčová slova: proton therapy beam * clustered DNA damage * linear energy transfer (LET) * Agarose Gel Electrophoresis (AGE) * Atomic Force Microscopy (AFM) * damage biomarkers * scavenging capacity * biodosimetry
Obor OECD: Biochemistry and molecular biology
Impakt faktor: 5.6, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
https://doi.org/10.3390/ijms232415606
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0338159Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0566892.pdf 2 6.6 MB Open Access - CC licence Vydavatelský postprint povolen - 2.0531783 - ÚFCH JH 2021 RIV CN eng J - Článek v odborném periodiku
Drogowska-Horna, Karolina A. - Mirza, M. Inam - Rodriguez, Álvaro - Kovaříček, Petr - Sládek, Juraj - Derrien, Thibault - Gedvilas, M. - Raciukaitis, G. - Frank, Otakar - Bulgakova, Nadezhda M. - Kalbáč, Martin
Periodic surface functional group density on graphene via laser-induced substrate patterning at Si/SiO(2)interface.
Nano Research. Roč. 13, č. 9 (2020), s. 2332-2339. ISSN 1998-0124. E-ISSN 1998-0000
Grant CEP: GA ČR(CZ) GJ18-09055Y; GA ČR(CZ) GX20-08633X; GA MŠMT LO1602; GA MŠMT(CZ) LM2015073; GA MŠMT EF15_003/0000445; GA MŠMT EF15_006/0000674; GA MŠMT(CZ) EF16_013/0001821; GA MŠMT EF16_026/0008382
Grant ostatní: OP VVV - BIATRI(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/15_003/0000445; OP VVV - HiLASE-CoE(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/15_006/0000674; Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy - GA MŠk(CZ) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_026/0008382; GA MŠk(CZ) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_013/0001821
Institucionální podpora: RVO:61388955 ; RVO:68378271
Klíčová slova: covalent functionalization * raman-spectroscopy * layer graphene * chemistry * defects * substituent * reactivity * deposition * films * 2D materials * graphene functionalization * lipss * periodic patterns * Raman spectroscopy * atomic force microscopy (AFM)
Obor OECD: Physical chemistry; Optics (including laser optics and quantum optics) (FZU-D)
Impakt faktor: 8.897, rok: 2020
Způsob publikování: Omezený přístup
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0310400Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0531783.pdf 6 2.4 MB Vydavatelský postprint vyžádat - 3.0489833 - MBÚ 2019 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Fahrner, M. - Pandey, Saurabh Kumar - Muik, M. - Traxler, L. - Butorac, C. - Stadlbauer, M. - Zayats, Vasilina - Křížová, A. - Plenk, P. - Frischauf, I. - Schindl, R. - Gruber, H.J. - Hinterdorfer, P. - Ettrich, Rüdiger - Romanin, C. - Derler, I.
Communication between N terminus and loop2 tunes Orai activation.
Journal of Biological Chemistry. Roč. 293, č. 4 (2018), s. 1271-1285. ISSN 0021-9258. E-ISSN 1083-351X
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LTC17069
GRANT EU: European Commission(CZ) COST Action BM1406
Institucionální podpora: RVO:61388971
Klíčová slova: atomic force microscopy (AFM) * calcium release-activated calcium channel protein 1 (ORAI1) * electrophysiology
Obor OECD: Microbiology
Impakt faktor: 4.106, rok: 2018
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0284168 - 4.0443404 - ÚJF 2016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Popok, V. N. - Hanif, M. - Macková, Anna - Mikšová, Romana
Structure and Plasmonic Properties of Thin PMMA Layers with Ion-Synthesized Ag Nanoparticles.
Journal of Polymer Science. Part B, Polymer Physics. Roč. 53, č. 9 (2015), s. 664-672. ISSN 0887-6266
Grant CEP: GA ČR(CZ) GBP108/12/G108; GA MŠMT LM2011019
Institucionální podpora: RVO:61389005
Klíčová slova: atomic force microscopy (AFM) * carbonization of polymers * ion implantation * localized surface plasmon resonance * nanocomposites * nanoparticles * optics * sputtering of polymers
Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
Impakt faktor: 3.318, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0246140 - 5.0435448 - ÚFM 2015 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Man, Jiří - Valtr, M. - Kuběna, Ivo - Petrenec, M. - Obrtlík, Karel - Polák, Jaroslav
AFM and FIB study of cyclic strain localization and surface relief evolution in fatigued f.c.c. polycrystals.
11th International Fatigue Congress. Zurich: Trans Tech Publications, 2014 - (Clark, G.; Wang, C.), s. 524-529. Advanced Materials Research, 891-892. ISBN 978-3-03835-008-8. ISSN 1022-6680.
[Fatigue 2014 - International Fatigue Congress /11./. Melbourne (AU), 02.03.2014-07.03.2014]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GAP108/10/2371; GA ČR GA13-32665S
Institucionální podpora: RVO:68081723
Klíčová slova: fatigue crack initiation * 316L austenitic steel * polycrystalline copper * atomic force microscopy (AFM) * focused ion beam (FIB) * persistent slip band (PSB) * extrusion * intrusion
Kód oboru RIV: JL - Únava materiálu a lomová mechanika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0239315 - 6.0390150 - FZÚ 2013 RIV HR eng M - Část monografie knihy
Ukraintsev, Egor - Kromka, Alexander - Kozak, Halyna - Remeš, Zdeněk - Rezek, Bohuslav
Artifacts in atomic force microscopy of biological samples.
Atomic Force Microscopy Investigations into Biology - From Cell to Protein. Rijeka: InTech, 2012 - (Frewin, C.), s. 29-54. ISBN 978-953-51-0114-7
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: atomic force microscopy (AFM) * validity of measurement * accuracy of measurement
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0219025 - 7.0386854 - FZÚ 2013 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Ledinský, Martin - Fejfar, Antonín - Vetushka, Aliaksi - Stuchlík, Jiří - Kočka, Jan
Local photoconductivity of microcrystalline silicon thin films excited by 442 nm HeCd laser measured by conductive atomic force microscopy.
Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 358, č. 17 (2012), s. 2082-2085. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812.
[International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors (ICANS) /24./. Nara, 21.08.2011-26.08.2011]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA MŠMT(CZ) MEB061012; GA AV ČR KAN400100701
Grant ostatní: 7. Framework programme of the European Community(XE) no. 240826
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: amorphous and nanocrystalline silicon films * atomic force microscopy (AFM) * local photoconductivity
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.597, rok: 2012
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022309312000178
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0216097 - 8.0381919 - ÚFM 2013 RIV RU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Man, Jiří - Valtr, M. - Petrenec, Martin - Dluhoš, J. - Kuběna, Ivo - Obrtlík, Karel - Polák, Jaroslav
Experimental studies on fundamental mechanisms leading to fatigue crack initiation.
19th European Conference on Fracture: Fracture Mechanics for Durability, Reliability and Safety. Kazan: Kazan Scientific Centre of the RAS, 2012 - (Klingbeil, D.; Vormwald, M.; Eulitz, G.), Paper No. 266. ISBN 978-5-905576-18-8.
[ECF 19 - European Conference on Fracture /19./. Kazan (RU), 26.08.2012-31.08.2012]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GAP108/10/2371
Institucionální podpora: RVO:68081723
Klíčová slova: fatigue * 316L austenitic stainless steel * atomic force microscopy (AFM) * persistent slip band (PSB) * persistent slip marking (PSM) * extrusion * intrusion * crack initiation * point defects
Kód oboru RIV: JL - Únava materiálu a lomová mechanika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0212279 - 9.0375351 - FZÚ 2012 JP eng A - Abstrakt
Rezek, Bohuslav - Verveniotis, Elisseos - Šípek, Emil - Stuchlík, Jiří - Ledinský, Martin - Kočka, Jan
Generating ordered Si nanocrystals via atomic force microscopy.
ICANS 24. Program and Abstracts Book. Nara, 2011. s. 33.
[International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors /24./ (ICANS 24). 21.08.2011-26.08.2011, Nara]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: Si nanocrystals * amorphous silicon * atomic force microscopy (AFM)
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0208027 - 10.0375024 - FZÚ 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Verveniotis, Elisseos - Kromka, Alexander - Rezek, Bohuslav
Electrostatic assembly of alumina nanoparticles on nanocrystalline diamond films.
WDS'11 Proceedings of Contributed Papers: Part III: Physics. Praha: MATFYZPRESS, 2011 - (Šafránková, J.; Pavlů, J.), s. 93-98. ISBN 978-80-7378-186-6.
[WDS 2011 - Annual Conference of Doctoral Students /20./. Prague (CZ), 31.05.2011-03.06.2011]
Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA ČR GAP204/10/0212
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: atomic force microscopy (AFM) * Kelvin force microscopy (KFM) * electrostatic charging * self-assembly * nanocrystalline diamond
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0207800