Výsledky vyhledávání
- 1.0520350 - FZÚ 2020 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Zemek, Josef - Houdková, Jana - Jiříček, Petr - Ižák, Tibor - Kalbáč, Martin
Non-destructive depth profile reconstruction of single-layer graphene using angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy.
Applied Surface Science. Roč. 491, Oct (2019), s. 16-23. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000760; GA MŠMT(CZ) LM2015088; GA ČR GF16-34856L; GA MŠMT(CZ) LTC18039
Grant ostatní: OP VVV - SOLID21(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000760
Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:61388955
Klíčová slova: single-layer graphene * Raman spectroscopy * X-ray-induced Auger electron spectroscopy (XAES) * angular-resolved core-level photoelectron spectroscopy (ARXPS) * maximum entropy method * concentration depth profile reconstruction
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.); Physical chemistry (UFCH-W)
Impakt faktor: 6.182, rok: 2019
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.06.083
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0305033Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0520350.pdf 1 910.5 KB Vydavatelský postprint vyžádat - 2.0337380 - FZÚ 2010 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Lesiak, B. - Zemek, Josef - Jiříček, Petr - Stobinski, L.
Temperature modification of oxidized multiwall carbon nanotubes studied by electron spectroscopy methods.
[Studium tepelné modifikace oxidovaných uhlíkových nanotrubek metodami elektronové spektroskopie.]
Physica Status Solidi B. Roč. 246, 11-12 (2009), s. 2645-2649. ISSN 0370-1972. E-ISSN 1521-3951
Grant CEP: GA ČR GA202/09/0428
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: carbon nanotubes * XPS * XAES * sp2/sp3 hybridization * chemical bonding
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.150, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0181394 - 3.0331835 - FZÚ 2010 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Lesiak, B. - Zemek, Josef - Houdková, Jana - Jiříček, Petr - Jozwik, A.
XPS and XAES of polyethylenes aided by line shape analysis: The effct of electron irradiation.
[Analýza tvaru XPS a XAES spekter polyetylénů: Vliv ozáření elektrony.]
Polymer Degradation and Stability. Roč. 94, č. 10 (2009), s. 1714-1721. ISSN 0141-3910. E-ISSN 1873-2321
Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: XPS * XAES * line shape analysis * electron beam degradation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.154, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0177246 - 4.0181480 - UFCH-W 20020149 RIV SE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Bastl, Zdeněk - Spirovová, Ilona - Pick, Štěpán
Formation of the Pd/V Interface: An Angle Resolved XPS and XAES Study.
Proceeding of the 7th European Conference on Nanometer-Scale Science and Technology. Švédsko: Malmö Kongressbyra AB, 2002, s. 1-4.
[European Conference on Nanometer-Scale Science and Technology /7./. Malmö (SE), 24.06.2002-28.06.2002]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z4040901
Klíčová slova: Pd-V alloy * bimetallic interfaces * XPS and XAES
Kód oboru RIV: CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0078044