Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0525007 - ÚJF 2021 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Torrisi, L. - Torrisi, Alfio - Havránek, Vladimír - Tomandl, Ivo - Silipigni, L.
    Ion, electron and laser beams for Cultural Heritage investigations by Czech-Italian collaboration.
    Journal of Instrumentation. Roč. 15, č. 4 (2020), č. článku C04050. ISSN 1748-0221. E-ISSN 1748-0221.
    [Conference on Plasma Physics by Laser and Applications (PPLA). Pisa, 29.10.2019-31.10.2019]
    Grant CEP: GA MŠMT LM2015056; GA ČR GA19-02482S; GA MŠMT EF16_013/0001812
    Institucionální podpora: RVO:61389005
    Klíčová slova: mass spectrometers * X-ray detectors * X-ray fluorescence (XRF) systems
    Obor OECD: Nuclear physics
    Impakt faktor: 1.415, rok: 2020
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://doi.org/10.1088/1748-0221/15/04/C04050
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0309211
     
     
  2. 2.
    0523084 - ÚTAM 2021 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Vavřík, Daniel - Kytýř, Daniel - Žemlička, J.
    Stratigraphy of a layered structure utilizing XRF and scattered photons.
    Journal of Instrumentation. Roč. 15, March (2020), č. článku C03011. ISSN 1748-0221. E-ISSN 1748-0221.
    [International Workshop on Radiation Imaging Detectors /21./. Crete, 07.07.2019-12.07.2019]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000766; GA MK(CZ) DG18P02OVV006
    Klíčová slova: X-ray fluorescence (XRF) systems * inspection with x-rays * pixelated detectors and associated VLSI electronics
    Obor OECD: Coating and films
    Impakt faktor: 1.415, rok: 2020
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://doi.org/10.1088/1748-0221/15/03/C03011
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0307488
     
     
  3. 3.
    0501299 - ÚTAM 2020 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Vavřík, Daniel - Kumpová, Ivana - Vopálenský, Michal - Žemlička, J.
    Mapping of XRF data onto the surface of a tomographically reconstructed historical sculpture.
    Journal of Instrumentation. Roč. 14, February (2019), č. článku C02003. ISSN 1748-0221. E-ISSN 1748-0221.
    [International Workshop on Radiation Imaging Detectors /20./. Sundsvall, 24.06.2018-28.06.2018]
    Grant CEP: GA MK(CZ) DG16P02M022; GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000766
    Klíčová slova: data processing methods * X-ray fluorescence (XRF) systems * inspection with x-rays
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Impakt faktor: 1.454, rok: 2019
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://doi.org/10.1088/1748-0221/14/02/C02003
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0293288
     
     
  4. 4.
    0380011 - ÚACH 2013 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Žemlička, J. - Jakůbek, J. - Krejčí, F. - Hradil, David - Hradilová, J. - Mislerová, H.
    Mobile system for in-situ imaging of cultural objects.
    Journal of Instrumentation. Roč. 7, January (2012), C01108/1-C01108/8. ISSN 1748-0221. E-ISSN 1748-0221
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06041
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z40320502
    Klíčová slova: inspection with x-rays * X-ray fluorescence (XRF) systems
    Kód oboru RIV: CA - Anorganická chemie
    Impakt faktor: 1.656, rok: 2012
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210841
     
     
  5. 5.
    0375496 - ÚACH 2012 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Žemlička, J. - Jakůbek, J. - Kroupa, M. - Hradil, David - Hradilová, J. - Mislerová, H.
    Analysis of painted arts by energy sensitive radiographic techniques with the Pixel Detector Timepix.
    Journal of Instrumentation. Roč. 6, - (2011), C01066/1-C01066/7. ISSN 1748-0221. E-ISSN 1748-0221
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06041
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z40320502
    Klíčová slova: inspection with x-rays * pixelated detectors and associated VLSI electronics * X-ray fluorescence (XRF) systems * X-ray radiography and digital radiography (DR)
    Kód oboru RIV: CA - Anorganická chemie
    Impakt faktor: 1.869, rok: 2011
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0208133
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.