Výsledky vyhledávání
- 1.0475292 - ÚFP 2018 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Žídek, Karel - Hlubuček, Jiří - Horodyská, Petra - Budasz, Jiří - Václavík, Jan
Analysis of sub-bandgap losses in TiO2 coating deposited via single and dual ion beam deposition.
Thin Solid Films. Roč. 626, March (2017), s. 60-65. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1206
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: Ion beam deposition * Titanium dioxide * Optical coating * Sub-bandgap losses * Urbach tail
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 1.939, rok: 2017
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609017301256
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0272133Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup Analysis of sub-bandgap losses in TiO2 coating deposited via single and dual ion beam deposition.pdf 3 956.9 KB Autorský postprint vyžádat - 2.0424989 - FZÚ 2014 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Franta, D. - Nečas, D. - Zajíčková, L. - Ohlídal, I. - Stuchlík, Jiří
Advanced modeling for optical characterization of amorphous hydrogenated silicon films.
Thin Solid Films. Roč. 541, AUG (2013), s. 12-16. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: ellipsometry * spectrophotometry * a-Si:H * Urbach tail * localized states * sum rule
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.867, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0230959 - 3.0424878 - FZÚ 2014 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Franta, D. - Nečas, D. - Zajíčková, L. - Ohlídal, I. - Stuchlík, Jiří - Chvostová, Dagmar
Application of sum rule to the dispersion model of hydrogenated amorphous silicon.
Thin Solid Films. Roč. 539, JUL (2013), s. 233-244. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: optical constants * ellipsometry * spectrophotometry * a-Si:H * Urbach tail * localized states * sum rule
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.867, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0230860 - 4.0365941 - ÚPT 2012 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Franta, D. - Ohlídal, I. - Nečas, D. - Vižďa, F. - Caha, O. - Hasoň, M. - Pokorný, Pavel
Optical characterization of HfO(2) thin films.
Thin Solid Films. Roč. 519, č. 18 (2011), s. 6085-6091. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: optical properties * ellipsometry * spectrophotometry * hafnium oxide * transition-metal oxide * Urbach tail
Kód oboru RIV: JK - Koroze a povrchové úpravy materiálů
Impakt faktor: 1.890, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0201067