Výsledky vyhledávání
- 1.0522221 - ÚPT 2020 US eng A - Abstrakt
Mikmeková, Šárka - Jánský, P. - Kolařík, V. - Müllerová, Ilona
Surface imaging with UHV SLEEM and SEM LEEM.
Microscopy and Microanalysis. Cambridge University Press. Roč. 25, S2 (2019), s. 444-445. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting. 04.08.2019-08.08.2019, Portland]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: surface imaging * UHV SLEEM * SEM LEEM
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0306716 - 2.0518941 - ÚPT 2020 RIV cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - Sýkora, Jiří - Klein, Pavel - Konvalina, Ivo - Piňos, Jakub - Průcha, Lukáš
Držák vzorku elektronového mikroskopu.
[Electron microscope sample holder.]
2019. Vlastník: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 04.12.2019. Číslo vzoru: 33509
Grant CEP: GA TA ČR TG03010046
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy, samples holder, UHV, bias, TEM grids Anotace v ČJ a AJ * samples holder * UHV * bias * TEM grids
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
https://isdv.upv.cz/webapp/!resdb.pta.frm
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0303942 - 3.0518094 - ÚPT 2020 RIV cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
Krutil, Vojtěch - Dupák, Libor - Fořt, Tomáš - Matějka, Milan - Srnka, Aleš - Vlček, Ivan - Urban, Pavel
Držák vzorků s elektrickým kontaktováním.
[Sample holder with electrical contact.]
2019. Vlastník: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 03.12.2019. Číslo vzoru: 33444
Grant CEP: GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: cryogenic sample holder * UHV SEM/SPM microscope * electrical contacts
Obor OECD: Mechanical engineering
https://isdv.upv.cz/webapp/!resdb.pta.frm
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0303278 - 4.0509126 - ÚPT 2020 RIV FR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krutil, Vojtěch - Dupák, Libor - Fořt, Tomáš - Matějka, Milan - Srnka, Aleš - Vlček, Ivan - Urban, Pavel
Design of Cryogenic Sample Holder with Electrical Contacts for UHV SEM/SPM.
15th Cryogenics 2019 IIR International Conference. Proceedings. Paris: IIR, 2019, s. 369-377. Refrigeration Science and Technology. ISBN 978-2-36215-025-8. ISSN 0151-1637.
[IIR International Conference on Cryogenics /15./. Prague (CZ), 08.04.2019-11.04.2019]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: cryogenic sample holder * UHV SEM/SPM microscope * spring-loaded electrical contacts * transport pallet
Obor OECD: Mechanical engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0299911 - 5.0481149 - ÚPT 2018 AT eng A - Abstrakt
Daniel, Benjamin - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Very low energy STEM / TOF system.
Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons (SIMDALEE2017). Book of Abstracts. Wien: Technische Universitaet Wien, 2017. s. 70.
[SIMDALEE2017. Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons. 18.09.2017-22.09.2017, Pula]
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: STEM/TOF system * ultrathin films * UHV SLEEM
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0276755 - 6.0460199 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Daniel, Benjamin - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Very low energy STEM/TOF system.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 6-7. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: elecvtron microscopy * SLEEM * UHV SLEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260331 - 7.0427646 - ÚOCHB 2015 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Pinardi, A. L. - Martínez, J. I. - Jančařík, Andrej - Stará, Irena G. - Starý, Ivo - Lopez, M. F. - Méndez, J. - Martin-Gago, J. A.
Sequential formation of N-doped nanohelicenes, nanographenes and nanodomes by surface-assisted chemical (cyclo)dehydrogenation of heteroaromatics.
Chemical Communications. Roč. 50, č. 13 (2014), s. 1555-1557. ISSN 1359-7345. E-ISSN 1364-548X
Grant CEP: GA ČR(CZ) GAP207/10/2207
Grant ostatní: Operational Program Research and Development for Innovations(XE) FP7-604391
Institucionální podpora: RVO:61388963
Klíčová slova: dibenzohelicene * UHV-STM * Pt(111)
Kód oboru RIV: CC - Organická chemie
Impakt faktor: 6.834, rok: 2014
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0233167 - 8.0336643 - ÚPT 2010 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Klein, Pavel
Manipulátor vzorku pro ultra-vysoko-vakuový rastrovací elektronový mikroskop s pomalými elektrony.
[Specimen manipulator for the ultra-high-vacuum scanning electron microscope with slow electrons.]
Interní kód: 5511-2 ; 2009
Technické parametry: Vysoce stabilní manipulátor pro práci v tlaku 10E-8 Pa, plynule regulovatelné pohyby +- 5 mm v rovině v obou směrech a +- 10,5 mm ve svislém směru, přesný náklon +-5 deg ve dvou navzájem kolmých směrech, rotace +- 8 deg
Ekonomické parametry: Funkční vzor je doprovázen kompletní výkresovou dokumentací a je experimentálně odzkoušen při dlouhodobém zkušebním provozu. Je vhodný pro UHV aparatury ke studiu čistých povrchů pevných látek.
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: UHV specimen stage * surface analysis
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180832 - 9.0335294 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Man, O. - Pantělejev, L.
Study of the Microstructure of the UFG Copper in UHV SLEEM.
Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09). Brno: ISI AS CR, 2009 - (Pokorná, Z.; Mika, F.), s. 19. ISBN 978-80-254-4535-8.
[CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./. Brno (CZ), 10.08.2009-14.08.2009]
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: UHV SLEEM * EBSD * grain orientations
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179800 - 10.0205487 - UPT-D 20020037 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Ultrahigh vacuum scanning low energy electron microscope (UHV SLEEM) for surface studies.
Proceedings of the 2nd annual meeting of the Czechoslovak microscopy society. Brno: CSMS, 2002 - (Frank, L.), s. 79 - 82. ISBN 80-238-8749-1.
[CSEM. Vranovská Ves (CZ), 08.02.2002-09.02.2002]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1065901
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: UHV SLEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101100