Výsledky vyhledávání
- 1.0522221 - ÚPT 2020 US eng A - Abstrakt
Mikmeková, Šárka - Jánský, P. - Kolařík, V. - Müllerová, Ilona
Surface imaging with UHV SLEEM and SEM LEEM.
Microscopy and Microanalysis. Cambridge University Press. Roč. 25, S2 (2019), s. 444-445. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting. 04.08.2019-08.08.2019, Portland]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: surface imaging * UHV SLEEM * SEM LEEM
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0306716 - 2.0481149 - ÚPT 2018 AT eng A - Abstrakt
Daniel, Benjamin - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Very low energy STEM / TOF system.
Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons (SIMDALEE2017). Book of Abstracts. Wien: Technische Universitaet Wien, 2017. s. 70.
[SIMDALEE2017. Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons. 18.09.2017-22.09.2017, Pula]
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: STEM/TOF system * ultrathin films * UHV SLEEM
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0276755 - 3.0460199 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Daniel, Benjamin - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Very low energy STEM/TOF system.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 6-7. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: elecvtron microscopy * SLEEM * UHV SLEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260331 - 4.0335294 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Man, O. - Pantělejev, L.
Study of the Microstructure of the UFG Copper in UHV SLEEM.
Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09). Brno: ISI AS CR, 2009 - (Pokorná, Z.; Mika, F.), s. 19. ISBN 978-80-254-4535-8.
[CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./. Brno (CZ), 10.08.2009-14.08.2009]
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: UHV SLEEM * EBSD * grain orientations
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0179800 - 5.0205487 - UPT-D 20020037 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Ultrahigh vacuum scanning low energy electron microscope (UHV SLEEM) for surface studies.
Proceedings of the 2nd annual meeting of the Czechoslovak microscopy society. Brno: CSMS, 2002 - (Frank, L.), s. 79 - 82. ISBN 80-238-8749-1.
[CSEM. Vranovská Ves (CZ), 08.02.2002-09.02.2002]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1065901
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: UHV SLEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101100