Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0583158 - ÚFP 2024 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Kaván, František - Psota, Pavel - Lédl, Vít - Matoušek, O.
    Multiple wavelength digital holography for freeform shape measurement and lens alignment.
    Applied Optics. Roč. 62, č. 10 (2023), D138-D145. ISSN 1559-128X. E-ISSN 2155-3165
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: wavelenght * lens alignment * freeform shape measurement
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Impakt faktor: 1.9, rok: 2022
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://opg.optica.org/ao/abstract.cfm?uri=ao-62-10-D138
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0351150
     
     
  2. 2.
    0543063 - ÚPT 2022 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Řiháček, Tomáš - Horák, M. - Schachinger, T. - Mika, Filip - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Fořt, Tomáš - Radlička, Tomáš - Johnson, C. W. - Novák, L. - Seďa, B. - McMorran, B.J. - Müllerová, Ilona
    Beam shaping and probe characterization in the scanning electron microscope.
    Ultramicroscopy. Roč. 225, June (2021), č. článku 113268. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Electron diffraction * SEM * Electron beam structuring * Spot shape measurement * Electron vortex beam
    Obor OECD: Particles and field physics
    Impakt faktor: 2.994, rok: 2021
    Způsob publikování: Open access
    https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399121000589
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0320365
     
     
  3. 3.
    0511681 - FZÚ 2020 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Pavlíček, Pavel - Kučera, Jonatan
    White-light interferometer with tunable lens.
    Fourth International Conference on Applications of Optics and Photonics (AOP 2019). Bellingham: SPIE, 2019 - (Costa, M.), s. 1-5, č. článku 112070K. Proceedings of SPIE, 11207. ISBN 978-1-51063163-2.
    [International Conference on Applications of Optics and Photonics /4./. Lisbon (PT), 31.05.2019-04.06.2019]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA17-05547S
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: electrically tunable lens * shape measurement * white-light interferometry
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0301931
     
     
  4. 4.
    0484767 - ÚFP 2018 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Lédl, Vít - Psota, Pavel - Kaván, František - Matoušek, Ondřej - Mokrý, Pavel
    Surface topography measurement by frequency sweeping digital holography.
    Applied Optics. Roč. 56, č. 28 (2017), s. 7808-7814. ISSN 1559-128X. E-ISSN 2155-3165
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1206; GA ČR(CZ) GA16-11965S
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: Wavelenght Scanning Interferometry * Shape measurement * Profilomerty
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Impakt faktor: 1.791, rok: 2017
    https://doi.org/10.1364/AO.56.007808
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0279917
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    Surface topography measurement by frequency sweeping digital holography..pdf31.5 MBVydavatelský postprintvyžádat
     
     
  5. 5.
    0469279 - ÚFP 2017 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Psota, P. - Lédl, Vít - Vojtíšek, Petr - Tomáš, V.
    Multi-wavelength digital holography for shape measurement of grinded surfaces with ultimate accuracy.
    Proceedings of SPIE 10151, Optics and Measurement International Conference 2016. Vol. 10151. Bellingham: SPIE, Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, 2016 - (Kovačičinová, J.), č. článku 101510F. SPIE. ISBN 978-1-5106-0753-8. ISSN 0277-786X.
    [OAM 2016, Optics and Measurement International Conference 2016. Liberec (CZ), 11.10.2016-14.10.2016]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TA03010893
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: digital holography * shape measurement * windowed holography * averaging
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://dx.doi.org/10.1117/12.2256665
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0267088
     
     
  6. 6.
    0455576 - FZÚ 2016 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Pavlíček, Pavel
    Measurement of the shape of objects by shape from focus.
    International Conference on Optical and Photonic Engineering. Bellingham: SPIE, 2015 - (Asundi, A.; Fu, Y.), "952412-1"-"952412-6". Proceedings of SPIE, 9524. ISBN 978-1-62841-684-8. ISSN 0277-786X.
    [International Conference on Optical and Photonic Engineering. Singapore (SG), 14.04.2015-16.04.2015]
    Grant CEP: GA ČR GA13-12301S
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: shape from focus * shape measurement * focus measure operator
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0256182
     
     
  7. 7.
    0444515 - ÚFP 2016 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Psota, Pavel - Lédl, Vít - Vojtíšek, Petr - Doleček, Roman - Kopecký, V.
    3D form inspection of grinded optical surfaces by digital holography.
    Proceedings of SPIE Vol. 9442: Optics and Measurement Conference 2014. Vol. 9442. Bellingham: SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING, 2015 - (Kovačičinová, J.; Vít, T.), s. 944218-944218. SPIE. ISBN 978-1-62841-557-5. ISSN 0277-786X.
    [Optics and Measurement Conference 2014 (OaM 2014). Liberec (CZ), 07.10.2014-10.10.2014]
    Grant CEP: GA ČR GA13-10365S
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: Shape measurement * multiwavelength * digital holography * contouring * grinded surfaces * least square
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    http://dx.doi.org/10.1117/12.2176005
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0247028
     
     
  8. 8.
    0355851 - FZÚ 2011 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Pavlíček, Pavel - Takeda, M.
    Similarities and differences between spatial coherence profilometry and white-light interferometry.
    Similarities and Differences between Spatial Coherence Profilometry and White-light Interferometry. Melville, New York: AIP, 2010 - (Hack, E.; Rastogi, P.), s. 161-166. AIP Conference Proceedings, 1236. ISBN 978-0-7354-0783-1.
    [International Conference on Advanced Phase Measurement Methods in Optics and Imaging. Ascona (CH), 16.05.2010-21.05.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR KAN301370701
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
    Klíčová slova: white-light interferometry * spatial coherence profilometry * shape measurement
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    http://dx.doi.org/10.1063/1.3426104
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006318
     
     
  9. 9.
    0340740 - FZÚ 2010 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Pavlíček, Pavel - Halouzka, M. - Duan, Z. - Takeda, M.
    Spatial coherence profilometry on tilted surfaces.
    Applied Optics. Roč. 48, č. 34 (2009), H40-H47. ISSN 0003-6935
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) 1M06002
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
    Klíčová slova: tilted surface * spatial coherence profilometry * spatial coherence * measurement error * shape measurement
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 1.410, rok: 2009
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0183922
     
     
  10. 10.
    0025296 - FZÚ 2006 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Rössler, T. - Mandát, Dušan - Hrabovský, Miroslav
    Přehled topografických profilometrických metod vyvíjených ve Společné laboratoři optiky v Olomouci.
    [Review of the topographic and profilometric methods developed in the Joint laboratory of optics in Olomouc.]
    Experimental Stress Analysis 2005. Brno University of Technology, 2005 - (Houfek, L.; Návrat, T.; Vlk, M.; Fius, V.), s. 75-76. ISBN 80-214-2941-0.
    [International conference Experimental Stress Analysis 2005 /43./. Skalský Dvůr (CZ), 07.06.2005-09.06.2005]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LN00A015
    Klíčová slova: profilometry * topography * 3D shape measurement * moiré topography * Fourier profilometry * computational profilomery * stereoscopic profilometry
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0115701
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.