Výsledky vyhledávání
- 1.0573063 - BC 2024 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Marijic, V. F. - Subirana, M. A. - Schaumloeffel, D. - Barisic, J. - Gontier, E. - Krasnici, N. - Mijosek, T. - Hernández-Orts, Jesús S. - Scholz, Tomáš - Erk, M.
First insight in element localisation in different body parts of the acanthocephalan Dentitruncus truttae using TEM and NanoSIMS.
Science of the Total Environment. Roč. 887, AUG (2023), č. článku 164010. ISSN 0048-9697. E-ISSN 1879-1026
Grant CEP: GA ČR(CZ) GX19-28399X
Institucionální podpora: RVO:60077344
Klíčová slova: Nanoscale secondary ion mass spectrometry * Transmission electron microscopy * Correlative imaging * Thorny-headed worms * Body ultrastructure * Chemical composition
Obor OECD: Marine biology, freshwater biology, limnology
Impakt faktor: 9.8, rok: 2022
Způsob publikování: Omezený přístup
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0048969723026311?via%3Dihub
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0343718 - 2.0470064 - FZÚ 2017 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Vaniš, Jan - Zelinka, Jiří - Zeipl, Radek - Jelínek, Miroslav - Kocourek, Tomáš - Remsa, Jan - Navrátil, Jiří
Scanning thermal microscopy of thermoelectric nanostructures.
Journal of Electronic Materials. Roč. 45, č. 3 (2016), s. 1734-1739. ISSN 0361-5235. E-ISSN 1543-186X
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA15-05864S; GA ČR(CZ) GA13-33056S
Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:61389013
Klíčová slova: thermoelectric layer * scanning thermal microscopy * pulsed laser deposition * laser deposition * secondary ion mass spectrometry
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus; CA - Anorganická chemie (UMCH-V)
Impakt faktor: 1.579, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0267800 - 3.0469517 - ÚFE 2017 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Vaniš, Jan - Zelinka, J. - Zeipl, R. - Jelínek, M. - Kocourek, T. - Remsa, J. - Navrátil, J.
Scanning Thermal Microscopy of Thermoelectric Nanostructures.
Journal of Electronic Materials. Roč. 45, č. 3 (2016), s. 1734-1739. ISSN 0361-5235. E-ISSN 1543-186X
Institucionální podpora: RVO:67985882
Klíčová slova: secondary ion mass spectrometry * laser deposition * pulsed laser deposition
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.579, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0267303Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup UFE 0469517.pdf 2 1.1 MB Jiná vyžádat - 4.0462205 - FZÚ 2017 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Vetushka, Aliaksi - Bernard, L. - Guseva, O. - Bastl, Zdeněk - Plocek, Jiří - Tomandl, Ivo - Fejfar, Antonín - Baše, Tomáš - Schmutz, P.
Adsorption of oriented carborane dipoles on a silver surface.
Physica Status Solidi B. Roč. 253, č. 3 (2016), 591-600. ISSN 0370-1972. E-ISSN 1521-3951
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2011026; GA ČR GB14-37427G; GA ČR GAP205/10/0348
Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:61388955 ; RVO:61388980 ; RVO:61389005
Klíčová slova: carborane * Kelvin probe force microscopy * self-assembled monolayers * time-of-flight secondary ion mass spectrometry * X-ray photoelectron spectroscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus; CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie (UFCH-W); CA - Anorganická chemie (UACH-T)
Impakt faktor: 1.674, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0261701 - 5.0387667 - ÚFE 2013 RIV RU eng J - Článek v odborném periodiku
Stepanov, B. - Wágner, T. - Lorinčík, Jan - Frumar, M. - Churbanov, M. - Chigirinsky, Y.
Solid state field-assisted diffusion silver diffusion in (TeO2)0.6(WO3)0.25(La2O3)0.05(Na2O)0.1 glass.
Inorganic Materials. Roč. 48, č. 6 (2012), s. 642-647. ISSN 0020-1685. E-ISSN 1608-3172
Institucionální podpora: RVO:67985882
Klíčová slova: Tellurite glass * Solid state diffusion * Secondary Ion Mass Spectrometry
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 0.376, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0220320 - 6.0368047 - ÚFE 2012 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Stepanov, B. - Ren, J. - Wágner, T. - Lorinčík, Jan - Frumar, M. - Churbanov, M. - Chigirinsky, Y.
Solid State Field-Assisted Diffusion of Copper in Multi-Component Tellurite Glass.
Journal of the American Ceramic Society. Roč. 94, č. 7 (2011), 1986-1988. ISSN 0002-7820. E-ISSN 1551-2916
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
Klíčová slova: Solid state diffusion * Secondary Ion Mass Spectrometry * Tellurite glass
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.272, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202518 - 7.0368046 - ÚFE 2012 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Stepanov, B. - Ren, J. - Wágner, T. - Lorinčík, Jan - Frumar, M. - Churbanov, M. - Chigirinsky, Y.
Solid state field-assisted diffusion of silver in multi-component tellurite glasses.
Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 357, č. 15 (2011), 3022-3026. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
Klíčová slova: Solid state diffusion * Secondary Ion Mass Spectrometry * Tellurite glass
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.537, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202517 - 8.0330419 - MBÚ 2010 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Vidová, Veronika - Volný, Michael - Lemr, Karel - Havlíček, Vladimír
Surface analysis by imaging mass spectrometry.
[Povrchová analýza pomocí zobrazovací hmotnostní spektrometrie.]
Collection of Czechoslovak Chemical Communications. Roč. 74, 7-8 (2009), s. 1101-1116. ISSN 0010-0765
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z50200510
Klíčová slova: secondary ion mass spectrometry * matrix assisted laser desorption ionization * mass spectrometry
Kód oboru RIV: CB - Analytická chemie, separace
Impakt faktor: 0.856, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0176210 - 9.0306519 - ÚFE 2008 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Lorinčík, Jan
Analýza tenkých vrstev metodou SIMS.
[Analysis of thin films with SIMS.]
Zpravodaj ČVS. Roč. 15, 1/2 (2007), s. 32-40. ISSN 1213-2705.
[Letní škola vakuové techniky. Štrbské pleso, 04.06.2007-07.06.2007]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
Klíčová slova: secondary ion mass spectrometry
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0159518 - 10.0021409 - FZÚ 2006 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Matolín, V. - Dudr, Viktor - Fabík, S. - Cháb, Vladimír - Mašek, K. - Matolínová, I. - Prince, K. C. - Skála, T. - Šutara, F. - Tsud, N. - Veltruská, K.
Activation of binary Zr-V non-evaporable getters: synchrotron radiation photoemission study.
[Aktivace binárních Zr-V gettrů: fotoemisní studie pomocí synchrotronového záření.]
Applied Surface Science. Roč. 243, - (2005), s. 106-112. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LA 151; GA ČR(CZ) GP202/02/D112
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: zirconium * vanadium * alloys * photoelectron spectroscopy * secondary ion mass spectrometry * getters
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.263, rok: 2005
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0003042