Výsledky vyhledávání
- 1.0560455 - ÚFP 2023 RIV PL eng J - Článek v odborném periodiku
Kanclíř, Vít - Václavík, Jan - Žídek, Karel
Precision of silicon oxynitride refractive-index profile retrieval using optical characterization.
Acta Physica Polonica A. Roč. 143, č. 3 (2021), s. 215-221. ISSN 0587-4246. E-ISSN 1898-794X
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_026/0008390
Grant ostatní: GA AV ČR(CZ) StrategieAV21/17
Program: StrategieAV
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: Dual ion beam sputtering * Gradient refractive-index layers * Precision of optical characterization * Silicon oxynitride
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 0.725, rok: 2021
Způsob publikování: Open access
http://przyrbwn.icm.edu.pl/APP/PDF/140/app140z3p04.pdf
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0333383 - 2.0503799 - ÚOCHB 2020 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Reineck, P. - Trindade, L. F. - Havlík, Jan - Štursa, Jan - Heffernan, A. - Elbourne, A. - Orth, A. - Capelli, M. - Cígler, Petr - Simpson, D. A. - Gibson, B. C.
Not All Fluorescent Nanodiamonds Are Created Equal: A Comparative Study.
Particle & Particle Systems Characterization. Roč. 36, č. 3 (2019), č. článku 1900009. ISSN 0934-0866. E-ISSN 1521-4117
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA18-17071S; GA MŠMT 8C18004; GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000729; GA MŠMT EF16_026/0008382; GA MŠMT(CZ) LM2011019; GA MŠMT LM2015056
Institucionální podpora: RVO:61388963 ; RVO:61389005
Klíčová slova: fluorescence * nanodiamonds * nitrogen-vacancy center * optical characterization * quantum properties
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Impakt faktor: 3.099, rok: 2019
Způsob publikování: Omezený přístup
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/ppsc.201900009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0296713 - 3.0350300 - ÚFE 2011 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Gladkov, Petar - Humlíček, J. - Hulicius, Eduard - Šimeček, Tomislav - Paskova, T. - Evans, K.
Effect of Fe doping on optical properties of freestanding semi-insulating HVPE GaN:Fe.
Journal of Crystal Growth. Roč. 312, č. 8 (2010), s. 1205-1209. ISSN 0022-0248. E-ISSN 1873-5002
Grant CEP: GA AV ČR IAA100100719; GA MŠMT(CZ) LC06040
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512; CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: Fe-doping * Optical characterization * Hybride vapor phase epitaxy * Nitrides
Kód oboru RIV: JB - Senzory, čidla, měření a regulace
Impakt faktor: 1.737, rok: 2010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190335Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup UFE 0350300.pdf 9 377.5 KB Jiná vyžádat - 4.0205521 - UPT-D 20020071 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Franta, D. - Ohlídal, I. - Klapetek, P. - Pokorný, Pavel
Characterization of the boundaries of thin films of TiO2 by atomic force microscopy and optical methods.
Surface and Interface Analysis. Roč. 34, - (2002), s. 759 - 762. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Grant CEP: GA ČR GA101/01/1104
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: optical characterization * TiO2 thin films * bonduary roughness
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.071, rok: 2002
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101134 - 5.0205400 - UPT-D 20010040 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Franta, D. - Ohlídal, I. - Klapetek, P. - Pokorný, Pavel - Ohlídal, M.
Analysis of Inhomogeneous Thin Films of ZrO2 by the Combined Optical Method and Atomic Force Microscopy.
Surface and Interface Analysis. Roč. 23, č. 1 (2001), s. 91-94. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Grant CEP: GA ČR GA202/98/0988; GA ČR GA101/98/0772; GA ČR GV106/96/K245; GA MŠMT VS96084
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: inhomogeneous ZrO 2 films * optical characterization * AFM
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 0.987, rok: 2001
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101014