Výsledky vyhledávání
- 1.0517818 - ÚJF 2020 RIV US eng A - Abstrakt
Horák, Pavel - Vacík, Jiří - Bakardjieva, Snejana - Cannavó, Antonino - Ceccio, Giovanni - Kupčík, Jaroslav - Klie, R.
Ion Beam Sputtering for Controlled Synthesis of Thin MAX (MXene) Phases.
Microscopy and Microanalysis. Cambridge University Press. Roč. 25, S2 (2019), s. 1626-1627. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting. 04.08.2019-08.08.2019, Portland]
Grant CEP: GA MŠMT LM2015056; GA MŠMT(CZ) LTAUSA17128
Institucionální podpora: RVO:61388980 ; RVO:61389005
Klíčová slova: ion beam sputtering * LEIF
Obor OECD: Nuclear physics; Inorganic and nuclear chemistry (UACH-T)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0303077 - 2.0504044 - ÚJF 2020 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Bejšovec, Václav - Cannavó, Antonino - Ceccio, Giovanni - Hnatowicz, Vladimír - Horák, Pavel - Lavrentiev, Vasyl - Macková, Anna - Tomandl, Ivo - Torrisi, Alfio - Vacík, Jiří
Instrumentation for study of nanomaterials in NPI REZ (New laboratory for material study in Nuclear Physics Institute in REZ).
NANOCON 2018. Vol. 2018. Brno: TANGER, 2019, s. 730-735. ISBN 978-808729489-5.
[10th Anniversary International Conference on Nanomaterials - Research and Application (NANOCON 2018). Brno (CZ), 17.10.2018-19.10.2018]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GBP108/12/G108
Institucionální podpora: RVO:61389005
Klíčová slova: AFM * ion beam analysis * LEIF
Obor OECD: Nuclear physics
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0296046