Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0507815 - ÚPT 2020 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Neděla, Vilém - Palupa, V. - Vítámvás, Pavel - Plachý, J.
    Nový high-tech scintilačně-ionizační detektor pro REM/EREM nejvyšší třídy.
    [New high class scintillation-ionization high-tech detector for SEM/ESEM.]
    Interní kód: APL-2019-01 ; 2019
    Technické parametry: Provozní vlnová délka: 370 – 800 nm (dle materiálu světlovodu). Celková délka detektoru s vysunutou scintilačně-fotonásobičovou jednotkou: 518 mm. Celková délka detektoru v zasunutém stavu (optimalizováno pro Quanta 650 FEG): 478 mm. Provozní tlak v komoře vzorku elektronového mikroskopu (optimalizováno pro Quanta 650 FEG): 1.5e-4 až 2500 Pa. Funkčnost prototypu pro jeho zavedení do výroby byla ověřena v rastrovacím elektronovém mikroskopu Quanta 650 FEG v Laboratoři environmentální elektronové mikroskopie ÚPT AVČR v Brně. Průměr světlovodu: 20 mm (optimalizováno pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop Quanta 650 FEG).
    Ekonomické parametry: Prototyp realizovaný při řešení grantu CZ01102/00/00/15_019/0004693 s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení dle podmínek Smlouvy o využití výsledku výzkumu a vývoje č. 2 získaného v rámci řešení projektu „High-tech detekční systémy pro elektronovou mikroskopii.“ Ekonomický přínos bude realizován příjemcem projektu, firmou Tecpa s. r. o., IČ: 27675173, DIČ: CZ27675173 se sídlem Cornovova 829/48, 618 00 Brno. Kontakt: Ing. Vilém Neděla. Ph.D, vilem@isibrno.cz
    Grant CEP: GA MPO(CZ) EG15_019/0004693
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: REM * EREM * detector * ITO * scintillator * amplifier * mechanical drive console
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0298785
     
     
  2. 2.
    0371435 - ÚPT 2012 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
    Maxa, J. - Neděla, Vilém
    The Impact of Critical Flow on the Primary Electron Beam Passage through Differentially Pumped Chamber.
    Advances in Military Technology. Roč. 6, č. 1 (2011), s. 39-46. ISSN 1802-2308
    Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: EREM * CAE * SolidWorks * Cosmos * FEI * differentially pumped chamber
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0204949
     
     
  3. 3.
    0352595 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Maxa, J. - Neděla, Vilém
    Use of electronics product definition for the development of differentially pumped chamber.
    EDS'10 - Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference 2010 - Proceedings. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2010, s. 215-223. ISBN 978-80-214-4138-5.
    [EDS '10 - Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference. Brno (CZ), 01.09.2010-02.09.2010]
    Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: EREM * CAx * SolidWorks * Cosmos * FEI
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192070
     
     
  4. 4.
    0336847 - ÚPT 2010 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Jašek, M. - Neděla, Vilém
    Analýza komory diferenciálního čerpání EREM pomocí systému Cosmos FloWorks.
    [Using Cosmos FloWorks for analysis of the ESEM differential chamber.]
    Elektrotechnika a informatika 2009. Plzeň: Západočeská univerzita v Plzni, 2009. ISBN 978-80-7043-810-7.
    [Elektrotechnika a informatika 2009. Plzeň (CZ), 04.11.2009-05.11.2009]
    Grant CEP: GA MPO FR-TI1/118; GA MPO FR-TI1/305
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: differential chamber * REM * EREM.
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180989
     
     
  5. 5.
    0050992 - ÚPT 2007 cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Neděla, Vilém
    Problematika detekce sekundárních a zpětně odražených elektronů ve vysokém tlaku EREM se zřetelem na studium vzorků obsahujících vodu.
    [The problem of detection of secondary and backscattered electrons in high pressure conditions of ESEM AQUASEM-II.]
    PDS 2006 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronová optika. Brno: ÚPT AV ČR, 2006, s. 37-40. ISBN 80-239-7957-4.
    [PDS 2006. Brno (CZ), 19.12.2006]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886; GA AV ČR KJB200650602
    Klíčová slova: AQUASEM-II * EREM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140994
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.