Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0431338 - ÚPT 2015 CZ eng A - Abstrakt
    Neděla, Vilém - Konvalina, Ivo - Oral, Martin
    Simulation of energy distribution of signal electrons detected by the segmental ionization detector in high pressure conditions of ESEM.
    9th International Conference on Charged Particle Optics. Book of Abstracts. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v. v. i, 2014. s. 97. ISBN 978-80-87441-11-4.
    [International Conference on Charged Parrticle Optics /9./. 31.08.2014-05.09.2014, Brno]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-22777S
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: ESEM * detection system * EOD * Geant
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0236399
     
     
  2. 2.
    0398456 - KNAV 2014 CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Jandera, Tomáš - Šimáček, Marek
    Konference EOD 2013.
    Informace. -, č. 3 (2013). E-ISSN 1805-2800
    Klíčová slova: EOD * conferences * e-books on demand
    http://www.lib.cas.cz/casopis-informace/konference-eod-2013/
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0225940
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    eod2013.pdf0110.3 KBVydavatelský postprintpovolen
     
     
  3. 3.
    0353109 - ÚPT 2011 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona
    Analysis of a combined electrostatic and magnetic objective lens.
    Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2010 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 41. ISBN N.
    [Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2010-18.02.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: photoemission electron microscopy * low energy electron microscopy * EOD software
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006219
     
     
  4. 4.
    0353047 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Zlámal, J. - Lencová, Bohumila
    Accurate and Easy-to-use Electron Optical Design Program for Microscopy.
    Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, I1.6:1-2. ISBN 978-85-63273-06-2.
    [International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: EOD * FEM * Windows
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192397
     
     
  5. 5.
    0352431 - ÚPT 2011 SG eng A - Abstrakt
    Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona
    Properties of the cathode lens combined with a focusing magnetic/immersion-magnetic lens.
    Eighth International Conference on Charged Particle Optics CPO-8. Singapore: National University of Singapore, 2010. s. 158-159.
    [CPO /8./ International Conference on Charged Particle Optics. 12.07.2010-16.07.2010, Singapore]
    Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410; GA AV ČR IAA100650902
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: cathode lens * photo-emission electron microscopy * low energy electron microscopy * scanning electron microscopy * EOD
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191938
     
     
  6. 6.
    0352428 - ÚPT 2011 SG eng A - Abstrakt
    Neděla, Vilém - Konvalina, Ivo - Lencová, Bohumila - Zlámal, J.
    Comparison of calculated, simulated and measured signal amplification in variable pressure SEM.
    Eighth International Conference on Charged Particle Optics CPO-8. Singapore: National University of Singapore, 2010. s. 81-82.
    [CPO /8./ International Conference on Charged Particle Optics. 12.07.2010-16.07.2010, Singapore]
    Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: SEM * variable pressure SEM * AQUASEM * EOD * YAG-BSE detector
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191935
     
     
  7. 7.
    0352426 - ÚPT 2011 SG eng A - Abstrakt
    Zlámal, J. - Lencová, Bohumila
    Development of EOD for the design in electron and ion microscopy.
    Eighth International Conference on Charged Particle Optics CPO-8. Singapore: National University of Singapore, 2010. s. 73-74.
    [CPO /8./ International Conference on Charged Particle Optics. 12.07.2010-16.07.2010, Singapore]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: EOD * electron microscopy * ion microscopy
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191933
     
     
  8. 8.
    0350661 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lencová, Bohumila
    Recent developments and improvements of EOD program.
    Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 25-28. ISBN 978-80-254-6842-5.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: EOD * particle optics
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350661_01.pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190601
     
     
  9. 9.
    0350659 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona
    Electron optical properties of the cathode lens combined with a focusing magnetic/immersion-magnetic lens.
    Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2010 - (Mika, F.), s. 21-22. ISBN 978-80-254-6842-5.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./. Skalský dvůr (CZ), 31.05.2010-04.06.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: cathode lens * PEEM * LEEM * SEM * EOD software
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://arl-repository.lib.cas.cz/uloziste_av/UPT-D/cav_un_epca-0350659_01.pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190599
     
     
  10. 10.
    0332991 - KNAV 2010 CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Šimáček, Marek - Jandera, Tomáš
    E-Books on Demand: E-Knihy na požádání.
    Informace. -, č. 3 (2009), s. 12-13. ISSN 1210-8502. E-ISSN 1805-2800
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z70830501
    Klíčová slova: e-book * digitalizace * eod
    Kód oboru RIV: AF - Dokumentace, knihovnictví, práce s informacemi
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178087
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    E-books on demand.pdf0132.9 KBAutorský postprintpovolen
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.