Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0569021 - ÚFCH JH 2024 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Čapek, P. - Veselý, M. - Svoboda, M. - Remzová, Monika - Žouželka, Radek - Kočiřík, Milan - Brabec, Libor - Rathouský, Jiří
    Bohemian sandstone for restoration of cultural heritage sites: 3D microstructure and mass transport properties.
    Heritage Science. Roč. 11, č. 1 (2023), č. článku 36. ISSN 2050-7445. E-ISSN 2050-7445
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2018124
    Grant ostatní: GA MŠk(CZ) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_013/0001821
    Institucionální podpora: RVO:61388955
    Klíčová slova: X-ray computed micro-tomography * BSE and EDS imaging * Partitioning of void and solid phases * Connectivity of phases
    Obor OECD: Physical chemistry
    Impakt faktor: 2.5, rok: 2022
    Způsob publikování: Open access
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0340303
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    0569021.pdf02.9 MBopen accessVydavatelský postprintpovolen
     
     
  2. 2.
    0549980 - ÚPT 2022 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
    Mika, Filip
    SMV-2021-37: Analýza mikrostruktury a chemického složení solenoidu.
    [SMV-2021-37: Method for microstructural and chemical analysis of the solenoid.]
    Brno: EGSTON SYSTEM ELECTRONIC, spol. s r.o., 2021. 7 s.
    Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
    Klíčová slova: morphology * energy dispersive x-ray analysis * non-charging electron microscopy * energy-filtered electron microscopy * BSE
    Obor OECD: Materials engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0325861
     
     
  3. 3.
    0536212 - ÚPT 2021 CZ cze V - Výzkumná zpráva
    Mika, Filip
    SMV-2020-51: Analýza mikrostruktury a chemického složení syntetických diamantových prášků.
    [SMV-2020-51: Method for microstructural and chemical analysis of the synthetic diamantových powders.]
    Brno: EID Ltd., 2020. 3 s.
    Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
    Klíčová slova: morphology * senergy dispersive x-ray analysis * non-charging electron microscopy * energy-filtered electron microscopy * BSE
    Obor OECD: Materials engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314029
     
     
  4. 4.
    0521571 - ÚPT 2020 RS eng A - Abstrakt
    Skoupý, Radim - Krzyžánek, Vladislav
    Assessing the thickness error rate of quantitative STEM measurements.
    MCM 2019. 14th Multinational Congress on Microscopy. Proceedings. Belgrade: University of Belgrade, 2019. s. 107-109. ISBN 978-86-80335-11-7.
    [Multinational Congress on Microscopy /14./. 15.09.2019-20.09.2019, Belgrade]
    Grant CEP: GA ČR GA17-15451S; GA MPO(CZ) FV30271; GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: qSTEM * BSE signal
    Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0306173
     
     
  5. 5.
    0521251 - ÚPT 2020 DE eng A - Abstrakt
    Vaškovicová, Naděžda - Nakamura, N. - Matsuda, K. - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona
    Cathodoluminescence analysis of AlO2Sr4/Al.
    Microscopy Conference: MC 2019. Abstracts. Berlin: DSE, 2019. s. 194-195.
    [Microscopy Conference : MC 2019. 01.09.2019-05.09.2019, Berlin]
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: strontium * nanophospors * BSE
    Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale)
    https://www.microscopy-conference.de
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0305879
     
     
  6. 6.
    0507820 - ÚPT 2020 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Neděla, Vilém - Palupa, V. - Vítámvás, Pavel - Plachý, J.
    BSE detektor střední třídy pro zákaznický upgrade REM/EREM.
    [Middle class BSE detector for customer upgrade in SEM/ESEM.]
    Interní kód: APL-2019-02 ; 2019
    Technické parametry: Provozní vlnová délka: 370 – 800 nm (dle materiálu světlovodu). Celková délka detektoru s vysunutou scintilačně-fotonásobičovou jednotkou: 521 mm. Celková délka detektoru v zasunutém stavu (optimalizováno pro Quanta 650 FEG): 481 mm. Provozní tlak v komoře vzorku elektronového mikroskopu (optimalizováno pro Quanta 650 FEG): 1.5e-4 až 2500 Pa. Funkčnost prototypu pro jeho zavedení do výroby byla ověřena v rastrovacím elektronovém mikroskopu Quanta 650 FEG v Laboratoři environmentální elektronové mikroskopie ÚPT AVČR v Brně. Průměr světlovodu: 20 mm (optimalizováno pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop Quanta 650 FEG).
    Ekonomické parametry: Prototyp realizovaný při řešení grantu CZ01102/00/00/15_019/0004693 s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení dle podmínek Smlouvy o využití výsledku výzkumu a vývoje č. 2 získaného v rámci řešení projektu „High-tech detekční systémy pro elektronovou mikroskopii.“ Ekonomický přínos bude realizován příjemcem projektu, firmou Tecpa s. r. o., IČ: 27675173, DIČ: CZ27675173 se sídlem Cornovova 829/48, 618 00 Brno. Kontakt: Ing. Vilém Neděla. Ph.D, vilem@isibrno.cz
    Grant CEP: GA MPO(CZ) EG15_019/0004693
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: BSE detector * light-guide * scintillator * amplifier * manual drive console
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0298787
     
     
  7. 7.
    0496672 - ÚPT 2019 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Neděla, Vilém - Runštuk, Jiří - Tihlaříková, Eva - Vítámvás, Pavel
    Scintilačně fotonásobičová jednotka BSE detektoru s lomenou geometrií světlovodu pro REM.
    [BSE detector scintillation photomultiplier unit with refracted light guide geometry for REM.]
    Interní kód: APL-2018-03 ; 2018
    Technické parametry: Provozní vlnová délka: 370 – 800 nm (dle materiálu světlovodu), celková délka: 253,5 mm (optimalizováno pro Quanta 650 FEG), průměr světlovodu: 20 mm (optimalizováno pro Quanta 650 FEG), propustnost světlovodu pro daný materiál a vlnovou délku světla 425nm dle výsledků simulací v programu Geant4: 35%. Funkčnost prototypu pro jeho zavedení do výroby byla ověřena v elektronovém mikroskopu Quanta 650 FEG v Laboratoři environmentální elektronové mikroskopie ÚPT AVČR v Brně
    Ekonomické parametry: 1. Prototyp realizovaný při řešení grantu EG15_019/0004693 s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení dle podmínek Smlouvy o využití výsledku výzkumu a vývoje č. 1 získaného v rámci řešení projektu „High-tech detekční systémy pro elektronovou mikroskopii.“ Ekonomický přínos bude realizován příjemcem projektu, firmou Tecpa. Komtakt: Ing. Vilém Neděla, Ph.D., vilem@isibrno.cz
    Grant CEP: GA MPO(CZ) EG15_019/0004693
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: BSE detector * light-guide * scintillator
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0289336
     
     
  8. 8.
    0496665 - ÚPT 2019 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Neděla, Vilém - Runštuk, Jiří - Vítámvás, Pavel
    Scintilačně fotonásobičová jednotka BSE detektoru střední třídy pro zákaznický upgrade REM/EREM.
    [Scintillation photomultiplier unit of BSE detector of middle class for customer upgrade REM / EREM.]
    Interní kód: APL-2018-07 ; 2018
    Technické parametry: Provozní vlnová délka: 370 – 800 nm (dle materiálu světlovodu), celková délka: 244,5 mm (optimalizováno pro Quanta 650 FEG), průměr světlovodu: 20 mm (optimalizováno pro Quanta 650 FEG), propustnost světlovodu pro daný materiál a vlnovou délku světla 425nm dle výsledků simulací v programu Geant4: 5%. Funkčnost prototypu pro jeho zavedení do výroby byla ověřena v elektronovém mikroskopu Quanta 650 FEG v Laboratoři environmentální elektronové mikroskopie ÚPT AVČR v Brně
    Ekonomické parametry: Prototyp realizovaný při řešení grantu EG15_019/0004693 s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení dle podmínek Smlouvy o využití výsledku výzkumu a vývoje č. 1 získaného v rámci řešení projektu „High-tech detekční systémy pro elektronovou mikroskopii.“ Ekonomický přínos bude realizován příjemcem projektu, firmou Tecpa. Kontakt: Ing. Vilém Neděla, Ph.D., vilem@isibrno.cz
    Grant CEP: GA MPO(CZ) EG15_019/0004693
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: BSE detector * light-guide * scintillator
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0289332
     
     
  9. 9.
    0466098 - ÚPT 2017 CZ eng A - Abstrakt
    Piňos, Jakub - Paták, Aleš - Frank, Luděk
    Low energy electron microscopy for analysis of UFG steels.
    Mikroskopie 2016. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2016. s. 78.
    [Mikroskopie 2016. 03.05.2016-04.05.2016, Lednice]
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: SEM * SLEEM * BSE
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0264518
     
     
  10. 10.
    0465106 - ÚPT 2017 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lalinský, Ondřej - Schauer, Petr - Kučera, M. - Lučeničová, Z. - Hanuš, M.
    Prospective scintillators for low-energy BSE detectors.
    EMC2016. The 16th European Microscopy Congress. Proceedings. Oxford: Wiley, 2016, s. 1160-1161. ISBN 9783527808465.
    [EMC2016. European Microscopy Congress /16./. Lyon (FR), 28.08.2016-02.09.2016]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA ČR(CZ) GA16-05631S; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: BSE detector * cathodoluminescence * epitaxial layer * GAGG:Ce * low energy electron * scintillator
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/9783527808465.EMC2016.6239/pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263897
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.