Výsledky vyhledávání
- 1.0540297 - FZÚ 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Hunter, R.F.H. - Abidi, S. H. - Affolder, A.A. - Böhm, Jan - Kotek, Zdeněk - Kroll, Jiří - Latoňová, Věra - Mikeštíková, Marcela - Šťastný, Jan - Zahradník, Vít … celkem 42 autorů
First bulk and surface results for the ATLAS ITk Strip stereo annulus sensors.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Roč. 942, April (2019), s. 142-146. ISSN 0168-9002. E-ISSN 1872-9576
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LTT17018; GA MŠMT LM2015058
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: HL-LHC * ATLAS ITk * n+ -in-p microstrip sensor
Obor OECD: Particles and field physics
Impakt faktor: 1.265, rok: 2019
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1016/j.nima.2018.08.031
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0317939 - 2.0540295 - FZÚ 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Cindro, V. - Abidi, S. H. - Affolder, A.A. - Kroll, Jiří - Latoňová, Věra - Mikeštíková, Marcela … celkem 34 autorů
Measurement of the charge collection in irradiated miniature sensors for the upgrade of the ATLAS phase-II strip tracker.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Roč. 924, April (2019), s. 153-159. ISSN 0168-9002. E-ISSN 1872-9576
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LTT17018; GA MŠMT LM2015058
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: silicon * microstrip * signal * ATLAS
Obor OECD: Particles and field physics
Impakt faktor: 1.265, rok: 2019
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1016/j.nima.2018.10.007
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0317938 - 3.0540292 - FZÚ 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Blue, A.J. - Affolder, A.A. - Ai, X. - Kotek, Zdeněk - Kroll, Jiří - Mikeštíková, Marcela … celkem 78 autorů
Test beam evaluation of silicon strip modules for ATLAS phase-II strip tracker upgrade.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Roč. 924, April (2019), s. 108-111. ISSN 0168-9002. E-ISSN 1872-9576
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LTT17018; GA MŠMT LM2015058
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: semiconductor * silicon * detector
Obor OECD: Particles and field physics
Impakt faktor: 1.265, rok: 2019
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1016/j.nima.2018.09.041
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0317936