Výsledky vyhledávání
- 1.0555600 - ÚPT 2022 CZ eng A - Abstrakt
Hrubanová, Kamila - Heuser, T. - Drab, M. - Kaźmierczak, Z. (ed.) - Dabrowska, K. - Krzyžánek, Vladislav
Transmission electron microscopy of bacteriophages T4 and HAP1.
Microscopy 2021. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2021. s. 83.
[Microscopy 2021. 13.09.2021-15.09.2021, České Budějovice]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Grant ostatní: AV ČR(CZ) MSM100652102
Program: Program na podporu mezinárodní spolupráce začínajících výzkumných pracovníků
Institucionální podpora: RVO:68081731
https://www.mikrospol.cz/files/PDF/sbornik-mikroskopie-2021-final.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0330067
- 2.0540306 - ÚPT 2021 CZ eng A - Abstrakt
Řiháček, Tomáš - Horák, M. - Schachinger, T. - Mika, Filip - Matějka, Milan - Fořt, Tomáš - Radlička, Tomáš - Novák, L. - Seďa, B. - McMorran, B.J. - Béché, A. - Verbeeck, J. - Müllerová, Ilona
Electron vortex beams in the scanning electron microscope.
Microscopy 2020. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2020. s. 42.
[Microscopy 2020. 06.10.2020-07.10.2020, Lednice]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron vortex beams * SEM
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0317957
- 3.0536979 - ÚPT 2021 CZ eng A - Abstrakt
Konvalina, Ivo - Daniel, Benjamin - Zouhar, Martin - Paták, Aleš - Piňos, Jakub - Radlička, Tomáš - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - Materna-Mikmeková, Eliška
Study of electron scattering phenomena of advanced materials by UHV SLEEM/ToF.
Microscopy 2020. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2020. s. 95-96.
[Microscopy 2020. 06.10.2020-07.10.2020, Lednice]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron scattering phenomena
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314731
- 4.0521571 - ÚPT 2020 RS eng A - Abstrakt
Skoupý, Radim - Krzyžánek, Vladislav
Assessing the thickness error rate of quantitative STEM measurements.
MCM 2019. 14th Multinational Congress on Microscopy. Proceedings. Belgrade: University of Belgrade, 2019. s. 107-109. ISBN 978-86-80335-11-7.
[Multinational Congress on Microscopy /14./. 15.09.2019-20.09.2019, Belgrade]
Grant CEP: GA ČR GA17-15451S; GA MPO(CZ) FV30271; GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: qSTEM * BSE signal
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0306173
- 5.0518915 - ÚPT 2020 JP eng A - Abstrakt
Lalinský, Ondřej - Schauer, Petr - Hanuš, M. - Kučera, M.
Cathodoluminescence Performance of LuAG:Pr Single-Crystalline Films Optimized by Sc,Ga-codoping.
SCINT 2019. 15th International Conference on Scintillating Materials and their Applications. Proceedings. Sendai: Tohoku University, 2019. s. 135.
[SCINT 2019. International Conference on Scintillating Materials and their Applications /15./. 29.09.2019-04.10.2019, Sendai]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008; GA MŠk ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: cathodoluminescence * multicomponent garnet * liquid phase epitaxy * single-crystalline film
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0303921
- 6.0510323 - ÚPT 2020 DE eng A - Abstrakt
Řiháček, Tomáš - Mika, Filip - Horák, M. - Schachinger, T. - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Müllerová, Ilona
Creation and detection of electron vortex beams in a scanning electron microscope.
Microscopy Conference: MC 2019. Abstracts. Berlin: DSE, 2019. s. 409-410.
[Microscopy Conference : MC 2019. 01.09.2019-05.09.2019, Berlin]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: detection of electron vortex beams * SEM
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
https://www.microscopy-conference.de
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300832
- 7.0510317 - ÚPT 2020 DE eng A - Abstrakt
Zouhar, Martin - Daniel, Benjamin - Radlička, Tomáš - Oral, Martin - Konvalina, Ivo
Simulation of optimal measurement setting and calibration of a novel time-offlight spectrometer.
Microscopy Conference: MC 2019. Abstracts. Berlin: DSE, 2019. s. 603-604.
[Microscopy Conference : MC 2019. 01.09.2019-05.09.2019, Berlin]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008; GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: measurement setting and calibration * novel time-offlight
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
https://www.microscopy-conference.de
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300825
- 8.0510315 - ÚPT 2020 DE eng A - Abstrakt
Daniel, Benjamin - Zouhar, Martin - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Materna-Mikmeková, Eliška - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Very Low Energy Electron Transmission Spectro-Microscopy.
Microscopy Conference: MC 2019. Abstracts. Berlin: DSE, 2019. s. 609-610.
[Microscopy Conference : MC 2019. 01.09.2019-05.09.2019, Berlin]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008; GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: very low energy * electron transmission spectro-microscopy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
https://www.microscopy-conference.de
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300821
- 9.0510308 - ÚPT 2020 US eng A - Abstrakt
Materna-Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Zhang, T. - Asefa, T.
Contamination Mitigation Strategy for Ultra-Low Energy Electron Microscopy and Spectroscopy.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 25, S2 (2019), s. 500-501. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting. 04.08.2019-08.08.2019, Portland]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008; GA TA ČR TG03010046
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: ultra-low energy * spectroscopy * contamination mitigation strategy
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300817
- 10.0510307 - ÚPT 2020 US eng A - Abstrakt
Konvalina, Ivo - Daniel, Benjamin - Zouhar, Martin - Piňos, Jakub - Radlička, Tomáš - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - Materna-Mikmeková, Eliška
Studying 2D Materials by Means of Microscopy and Spectroscopy with Low Energy Electrons.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 25, S2 (2019), s. 482-483. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting. 04.08.2019-08.08.2019, Portland]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: two-dimensional (2D) materials * microscopy and spectroscopy * low energy electrons
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300816