Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0555600 - ÚPT 2022 CZ eng A - Abstrakt
    Hrubanová, Kamila - Heuser, T. - Drab, M. - Kaźmierczak, Z. (ed.) - Dabrowska, K. - Krzyžánek, Vladislav
    Transmission electron microscopy of bacteriophages T4 and HAP1.
    Microscopy 2021. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2021. s. 83.
    [Microscopy 2021. 13.09.2021-15.09.2021, České Budějovice]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Grant ostatní: AV ČR(CZ) MSM100652102
    Program: Program na podporu mezinárodní spolupráce začínajících výzkumných pracovníků
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    https://www.mikrospol.cz/files/PDF/sbornik-mikroskopie-2021-final.pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0330067
     
     
  2. 2.
    0540306 - ÚPT 2021 CZ eng A - Abstrakt
    Řiháček, Tomáš - Horák, M. - Schachinger, T. - Mika, Filip - Matějka, Milan - Fořt, Tomáš - Radlička, Tomáš - Novák, L. - Seďa, B. - McMorran, B.J. - Béché, A. - Verbeeck, J. - Müllerová, Ilona
    Electron vortex beams in the scanning electron microscope.
    Microscopy 2020. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2020. s. 42.
    [Microscopy 2020. 06.10.2020-07.10.2020, Lednice]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron vortex beams * SEM
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0317957
     
     
  3. 3.
    0536979 - ÚPT 2021 CZ eng A - Abstrakt
    Konvalina, Ivo - Daniel, Benjamin - Zouhar, Martin - Paták, Aleš - Piňos, Jakub - Radlička, Tomáš - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - Materna-Mikmeková, Eliška
    Study of electron scattering phenomena of advanced materials by UHV SLEEM/ToF.
    Microscopy 2020. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2020. s. 95-96.
    [Microscopy 2020. 06.10.2020-07.10.2020, Lednice]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron scattering phenomena
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314731
     
     
  4. 4.
    0521571 - ÚPT 2020 RS eng A - Abstrakt
    Skoupý, Radim - Krzyžánek, Vladislav
    Assessing the thickness error rate of quantitative STEM measurements.
    MCM 2019. 14th Multinational Congress on Microscopy. Proceedings. Belgrade: University of Belgrade, 2019. s. 107-109. ISBN 978-86-80335-11-7.
    [Multinational Congress on Microscopy /14./. 15.09.2019-20.09.2019, Belgrade]
    Grant CEP: GA ČR GA17-15451S; GA MPO(CZ) FV30271; GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: qSTEM * BSE signal
    Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0306173
     
     
  5. 5.
    0518915 - ÚPT 2020 JP eng A - Abstrakt
    Lalinský, Ondřej - Schauer, Petr - Hanuš, M. - Kučera, M.
    Cathodoluminescence Performance of LuAG:Pr Single-Crystalline Films Optimized by Sc,Ga-codoping.
    SCINT 2019. 15th International Conference on Scintillating Materials and their Applications. Proceedings. Sendai: Tohoku University, 2019. s. 135.
    [SCINT 2019. International Conference on Scintillating Materials and their Applications /15./. 29.09.2019-04.10.2019, Sendai]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: cathodoluminescence * multicomponent garnet * liquid phase epitaxy * single-crystalline film
    Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0303921
     
     
  6. 6.
    0510323 - ÚPT 2020 DE eng A - Abstrakt
    Řiháček, Tomáš - Mika, Filip - Horák, M. - Schachinger, T. - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Müllerová, Ilona
    Creation and detection of electron vortex beams in a scanning electron microscope.
    Microscopy Conference: MC 2019. Abstracts. Berlin: DSE, 2019. s. 409-410.
    [Microscopy Conference : MC 2019. 01.09.2019-05.09.2019, Berlin]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: detection of electron vortex beams * SEM
    Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
    https://www.microscopy-conference.de
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300832
     
     
  7. 7.
    0510317 - ÚPT 2020 DE eng A - Abstrakt
    Zouhar, Martin - Daniel, Benjamin - Radlička, Tomáš - Oral, Martin - Konvalina, Ivo
    Simulation of optimal measurement setting and calibration of a novel time-offlight spectrometer.
    Microscopy Conference: MC 2019. Abstracts. Berlin: DSE, 2019. s. 603-604.
    [Microscopy Conference : MC 2019. 01.09.2019-05.09.2019, Berlin]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008; GA TA ČR(CZ) TE01020118
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: measurement setting and calibration * novel time-offlight
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    https://www.microscopy-conference.de
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300825
     
     
  8. 8.
    0510315 - ÚPT 2020 DE eng A - Abstrakt
    Daniel, Benjamin - Zouhar, Martin - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Materna-Mikmeková, Eliška - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
    Very Low Energy Electron Transmission Spectro-Microscopy.
    Microscopy Conference: MC 2019. Abstracts. Berlin: DSE, 2019. s. 609-610.
    [Microscopy Conference : MC 2019. 01.09.2019-05.09.2019, Berlin]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008; GA TA ČR(CZ) TE01020118
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: very low energy * electron transmission spectro-microscopy
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    https://www.microscopy-conference.de
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300821
     
     
  9. 9.
    0510308 - ÚPT 2020 US eng A - Abstrakt
    Materna-Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Zhang, T. - Asefa, T.
    Contamination Mitigation Strategy for Ultra-Low Energy Electron Microscopy and Spectroscopy.
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 25, S2 (2019), s. 500-501. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
    [Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting. 04.08.2019-08.08.2019, Portland]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008; GA TA ČR TG03010046
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: ultra-low energy * spectroscopy * contamination mitigation strategy
    Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300817
     
     
  10. 10.
    0510307 - ÚPT 2020 US eng A - Abstrakt
    Konvalina, Ivo - Daniel, Benjamin - Zouhar, Martin - Piňos, Jakub - Radlička, Tomáš - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - Materna-Mikmeková, Eliška
    Studying 2D Materials by Means of Microscopy and Spectroscopy with Low Energy Electrons.
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 25, S2 (2019), s. 482-483. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
    [Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting. 04.08.2019-08.08.2019, Portland]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: two-dimensional (2D) materials * microscopy and spectroscopy * low energy electrons
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300816