Výsledky vyhledávání
- 1.0544784 - ÚPT 2022 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Schauer, Petr - Lalinský, Ondřej - Kučera, M.
Overview of S(T)EM electron detectors with garnet scintillators: Some potentials and limits.
Microscopy Research and Technique. Roč. 84, č. 4 (2021), s. 753-770. ISSN 1059-910X. E-ISSN 1097-0029
Grant CEP: GA MPO(CZ) FV30271; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: cathodoluminescence * conductive coating * garnet film scintillator * light guide * SEM electron detector
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 2.893, rok: 2021
Způsob publikování: Open access
https://analyticalsciencejournals.onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/jemt.23634
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0321592 - 2.0525112 - ÚPT 2021 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Skoupý, Radim - Fořt, Tomáš - Krzyžánek, Vladislav
Nanoscale Estimation of Coating Thickness on Substrates via Standardless BSE Detector Calibration.
Nanomaterials. Roč. 10, č. 2 (2020), č. článku 332. E-ISSN 2079-4991
Grant CEP: GA ČR GA17-15451S; GA MPO(CZ) FV30271
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SEM * quantitative imaging * back-scattered electrons * standardless calibration * electron mirror * sample bias * Monte Carlo simulation * thin coating layers
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Impakt faktor: 5.076, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/2079-4991/10/2/332
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0309322