Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0558867 - ÚPT 2023 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Tang, C. - Thomas, B. - Ramirez-Hernandez, M. - Materna-Mikmeková, Eliška - Asefa, T.
    Metal-Functionalized Hydrogels as Efficient Oxygen Evolution Electrocatalysts.
    ACS Applied Materials and Interfaces. Roč. 14, č. 18 (2022), s. 20919-20929. ISSN 1944-8244. E-ISSN 1944-8252
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: hydrogel * conducting polymer * oxygen evolution reaction * phytic acid * polyaniline
    Impakt faktor: 10.383, rok: 2021
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acsami.2c01667
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0333399
     
     
  2. 2.
    0551125 - ÚPT 2023 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Zouhar, Martin - Müllerová, Ilona - Fořt, Tomáš - Unčovský, M. - Materna-Mikmeková, Eliška
    Quantification of stem images in high resolution sem for segmented and pixelated detectors.
    Nanomaterials. Roč. 12, č. 1 (2022), č. článku 71. E-ISSN 2079-4991
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Grant ostatní: AV ČR(CZ) StrategieAV21/6
    Program: StrategieAV
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: STEM segmented detector * pixelated detector * scanning electron microscopy * Monte Carlo simulations * ray tracing * quantitative imaging
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Impakt faktor: 5.719, rok: 2021
    Způsob publikování: Open access
    https://www.mdpi.com/2079-4991/12/1/71
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326569
     
     
  3. 3.
    0536755 - ÚPT 2021 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Konvalina, Ivo - Daniel, Benjamin - Zouhar, Martin - Paták, Aleš - Piňos, Jakub - Radlička, Tomáš - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - Materna-Mikmeková, Eliška
    Very Low Energy Electron Transmission Spectroscopy of 2D Materials.
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 26, S2 (2020), s. 2636-2638. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: spectroscopy * very low energy electron transmission * 2D materials
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Impakt faktor: 4.127, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    https://www.cambridge.org/core/journals/microscopy-and-microanalysis/article/very-low-energy-electron-transmission-spectroscopy-of-2d-materials/2F6DF5F745E2CCA1AFA45F451D68BD41
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314644
     
     
  4. 4.
    0525529 - ÚPT 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Materna-Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Paták, Aleš - Polčák, J. - Sluyterman, S. - Lejeune, M. - Konvalina, Ivo
    Low-energy electron microscopy of graphene outside UHV: electron-induced removal of PMMA residues used for graphene transfer.
    Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. Roč. 241, MAY (2020), č. článku 146873. ISSN 0368-2048. E-ISSN 1873-2526
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: graphene * PMMA * slow electron treatment * XPS * Raman spectroscopy
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Impakt faktor: 1.957, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0368204818302068
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0309642
     
     
  5. 5.
    0508751 - ÚPT 2020 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Konvalina, Ivo - Mika, Filip - Krátký, Stanislav - Materna-Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona
    In-Lens Band-Pass Filter for Secondary Electrons in Ultrahigh Resolution SEM.
    Materials. Roč. 12, č. 14 (2019), č. článku 2307. E-ISSN 1996-1944
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA TA ČR TE01020233; GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: band-pass filter of signal electrons * SE detection * trajectory simulations
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Impakt faktor: 3.057, rok: 2019
    Způsob publikování: Open access
    https://www.mdpi.com/1996-1944/12/14/2307/htm
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0299576