Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0511318 - FZÚ 2020 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Stuckelberger, J. - Nogay, G. - Wyss, P. - Lehmann, M. - Allebé, C. - Debrot, F. - Ledinský, Martin - Fejfar, Antonín - Despeisse, M. - Haug, F.J. - Löper, P. - Ballif, C.
    Passivating contacts for silicon solar cells with 800 °C stability based on tunnel-oxide and highly crystalline thin silicon layer.
    IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC 2016) /43./. New York: IEEE, 2016, s. 2518-2521. ISBN 978-1-5090-2724-8. ISSN 0160-8371.
    [IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC 2016) /43./. Portland (US), 05.06.2016-10.06.2016]
    Grant CEP: GA MŠMT LM2015087
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: silicon wafers * solar cells * crystalline layers
    Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0301618
     
     
  2. 2.
    0511249 - FZÚ 2020 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lőper, P. - Nogay, G. - Wyss, P. - Hývl, Matěj - Procel, P. - Stuckelberger, J. - Ingenito, A. - Mack, I. - Jeangros, Q. - Ledinský, Martin - Fejfar, Antonín - Allebé, C. - Horzel, J. - Despeisse, M. - Crupi, F. - Haug, F.J. - Ballif, C.
    Exploring silicon carbide- and silicon oxide-based layer stacks for passivating contacts to silicon solar cells.
    IEEE Photovoltaics Specialists Conference (PVSC 2017) /44./. New York: IEEE, 2017, s. 2073-2075. ISBN 978-1-5090-5605-7. ISSN 0160-8371.
    [IEEE Photovoltaic Specialist Conference (PVSC) /44./. Washington, DC (US), 25.06.2017-30.06.2017]
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: energy and fuels * engineering * materials science * physics
    Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    https://ieeexplore.ieee.org/document/8366518
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0301627
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.