Výsledky vyhledávání
- 1.0494421 - ÚFP 2019 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Žídek, Karel
Zajištění plošné homogenity při depozici složitých systémů vrstev.
[Attaining surface homogeneity in the deposition of complex layer systems.]
CSL – Centre Spatial de Liège University of Liege, 2018. 7 s.
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1206
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: thin layer deposition * deposition mask * surface homogeneity
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287991 - 2.0494420 - ÚFP 2019 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Žídek, Karel
Stabilita optického monitoru při depozici 42-vrstvého interferenčního „bandpass“ filtru 520-590 nm.
[Stability of an optical monitor for deposition of 42-layer interference bandpass filter 520-590 nm.]
Turnov: CSL – Centre Spatial de Liège University of Liege, 2018. 7 s.
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1206
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: thin layer deposition * thickness monitor * interference filter * deposition stability
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287992 - 3.0490726 - ÚFP 2019 RIV CZ eng V - Výzkumná zpráva
Melich, Radek - Václavík, Jan - Žídek, Karel
Methodology of camera spectral response measurement.
Turnov: ELCOM, a.s., 2016. 3 s.
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: Camera spectral response
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0294183 - 4.0473026 - ÚFP 2017 RIV CZ eng V - Výzkumná zpráva
Melich, Radek - Václavík, Jan - Žídek, Karel
Device calibration..
Turnov: ELCOM, a.s., 2016. 3 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: absolute brightness calibration
Kód oboru RIV: JP - Průmyslové procesy a zpracování
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0270251 - 5.0473025 - ÚFP 2017 RIV CZ eng V - Výzkumná zpráva
Melich, Radek - Václavík, Jan - Žídek, Karel
Selection process of an observation objective with respect to minimal glare level.
Turnov: ELCOM, a.s., 2016. 3 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: objective glare
Kód oboru RIV: JP - Průmyslové procesy a zpracování
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0270195 - 6.0473020 - ÚFP 2017 RIV CZ eng V - Výzkumná zpráva
Melich, Radek - Václavík, Jan - Žídek, Karel
Measurement of camera spectral response.
Turnov: ELCOM, a.s., 2016. 3 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: Camera spectral response
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0270192