Výsledky vyhledávání

0487832 - FZÚ 2018 RIV CZ eng L - Prototyp, funkční vzorek
Batheja, Deepak Kumar - Singh, Sushil K.
A plate detector for electrons.
Interní kód: AV17006 ; 2017
Technické parametry: Uvedené technické řešení může sloužit jako detektor nízko intenzitního beta zářiče, resp. nízko intenzitního zdroje elektronů. Rovněž může uvedené technické řešení sloužit pro kalibraci.
Ekonomické parametry: Předkládaný funkční vzorek je využíván příjemcem a jeho hodnota nepřesahuje částku 5 mil. Kč
Grant CEP: GA MŠMT EF15_008/0000162
Grant ostatní: ELI Beamlines(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/15_008/0000162
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: imaging plate detector * electrons
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0282454