Výsledky vyhledávání
- 1.0460214 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Šiler, Martin - Samek, Ota - Bernatová, Silvie - Mlynariková, K. - Ježek, Jan - Šerý, Mojmír - Krzyžánek, Vladislav - Hrubanová, Kamila - Holá, M. - Růžička, F. - Zemánek, Pavel
Principal component analysis of Raman spectroscopy data for determination of biofilm forming bacteria and yeasts.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 66-67. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA15-20645S; GA ČR(CZ) GA16-12477S; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * biofilm * Raman spectra
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260346 - 2.0460213 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Šiler, Martin - Brzobohatý, Oto - Chvátal, Lukáš - Karásek, Vítězslav - Paták, Aleš - Pokorná, Zuzana - Mika, Filip - Zemánek, Pavel
Golden nanoparticle in optical tweezers: influence of shape and orientation on optical trapping.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 64-65. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Grant CEP: GA ČR GB14-36681G
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: NPs * plasmon resonance
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260345 - 3.0460212 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Rodenburg, C. - Masters, R. - Lidzey, D. - Unčovský, M. - Vystavěl, Tomáš - Mika, Filip
Secondary electron spectroscopy and energy selective imaging for the engineering of carbon based materials.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 58-59. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:68378271
Klíčová slova: emission spectroscopy * SES
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260344 - 4.0460211 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Řiháček, Tomáš - Mika, Filip - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Müllerová, Ilona
Difraction in a scanning electron microscopie.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 56-57. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * TEM * STEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260343 - 5.0460210 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Radlička, Tomáš - Oral, Martin
Correction of misalignment aberrations of a hexapole corrector using the differential algebra method.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 50-53. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT(CZ) 7H13015
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * Schertzer theorem * TEM * STEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260342 - 6.0460209 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pokorná, Zuzana - Knápek, Alexandr
Scanning very low energy electron microscopy for the characterization of polycrystalline metal samples.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 48-49. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * SEM * crystallographic orientation
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260341 - 7.0460208 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Piňos, Jakub - Mikmeková, Šárka - Frank, Luděk
The information depth of backscattered electron imaging.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 46-47. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * SEM * BSE
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260340 - 8.0460207 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Rozbořil, Jakub - Oral, Martin - Radlička, Tomáš
Optimal X-ray detection for thin samples in low-energy STEM.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 44-45. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * EDS * STEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260339 - 9.0460206 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Mikmeková, Eliška - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk
Scanning transmission microscopy at very low energies.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 40-41. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260338 - 10.0460205 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mika, Filip - Konvalina, Ivo - Krátký, Stanislav - Müllerová, Ilona
Bandpass filter for secondary electrons in SEM - experiments.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 36-37. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * TLD
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260337