Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0498267 - ÚPT 2019 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Skoupý, Radim - Krzyžánek, Vladislav
    In-situ držák pro SEM umožňující zobrazování tenkých vzorků s možností práce při vyšších teplotách.
    [In-situ SEM holder for imaging of thin samples with possibility of imaging at high temperature.]
    Interní kód: APL-2018-09 ; 2018
    Technické parametry: In-situ držák pro rastrovací elektronové mikroskopy (SEM) vybavené kryo-systémem typu Bal-Tec (Balzers, Lichtenštajnsko) a Leica microsystems (Vídeň, Rakousko) pro účely pozorování vzorků při vysokých teplotách. In-situ držák byl navržen pro pozorování velmi tenkých vzorků umístěných na TEM síťkách a to tak, aby bylo možné pozorování v transmisním módu pomocí retraktabilního STEM detektoru. Zároveň in-situ držák umožňuje pozorování vzorků pomocí detektoru pro energiově-disperzní analýzu paprsků rentgenového záření (EDX) a katodoluminiscenčního (CL) detektoru. In-situ držák je navržen takovým způsobem, aby jej bylo možné přenášet pomocí kryo-vakuového transferu VCT100 (Bal-Tec, Balzers, Lichtenštajnsko a Leica microsystems, Vídeň, Rakousko). In-situ držák umožňuje pevné uchycení až čtyř TEM sítěk standardních rozměrů (tj. průměr 3.05 mm) na konci ramene směřujícího od základny. Vzdálenost středu TEM sítěk od základny je 17 mm, což zaručuje možnost jeho použití pro většinu komerčně dostupných retraktabilních polovodičových STEM detektorů (testováno na STEM detektorech firmy FEI). Rozsah provozních teplot držáku je v rozmezí od pokojové teploty do 500 K.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Ing. Radim Skoupý, ras@isibrno.cz
    Grant CEP: GA TA ČR TG03010046; GA MŠk(CZ) LO1212
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: In-situ SEM * in-situ STEM * in-situ holder
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0290660
     
     
  2. 2.
    0498266 - ÚPT 2019 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Skoupý, Radim - Hrubanová, Kamila - Krzyžánek, Vladislav
    Systém kryo-držáku a antikontaminačního štítu pro katodoluminiscenční analýzu v SEM při velmi nízkých teplotách.
    [Cryo-SEM holder and anticontaminator system for cathodoluminescence analysis in SEM at very low temperatures.]
    Interní kód: APL-2018-08 ; 2018
    Technické parametry: Systém kryo-držák/antikontaminátor pro rastrovací elektronové mikroskopy (SEM) vybavené kryo-systémem typu Bal-Tec (Balzers, Lichtenštajnsko) a Leica microsystems (Vídeň, Rakousko) nově umožňuje pozorování vzorků při velmi nízkých teplotách. Sestava kryo-držák/antikontaminátor byla navržena pro účely pozorování vzorků umístěných na kovových terčících o průměru 3 a 6 mm (standardní rozměry terčíků používané v systémech pro vysokotlaké mražení High Pressure Freezing (HPF), výrobců Leica microsystems a Engineering Office M. Wohlwend GmbH, Sennwald, Švýcarsko) a to tak, aby bylo možné pozorování jak pomocí detektorů sekundárních a zpětně odražených elektronů, tak katodoluminiscenčního (CL) detektoru. Kryo-držák je navržen takovým způsobem, aby jej bylo možné přenášet pomocí kryo-vakuového transferu VCT100 (Bal-Tec, Balzers, Lichtenštajnsko a Leica microsystems, Vídeň, Rakousko), tzn. je zachována jeho kompatibilita s přenosnou tyčí transferu. Kryo-držák umožňuje pevné uchycení až dvou HPF terčíků o průměru 3 a 6 mm na konci ramene směřujícího od základny. Stolek je doplněn o antikontaminátor, který je vzhledem k jeho přímému spojení s chladovody nejchladnějším místem soustavy a během zobrazování vzorku snižuje kontaminaci. Vzorek je ohříván na požadovanou teplotu pomocí topného elementu umístěného přímo na držáku vzorku. Teplota je měřena paralelně v tělese stolku a přímo na držáku v těsné blízkosti vzorku.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Ing. Radim Skoupý, ras@isibrno.cz
    Grant CEP: GA TA ČR TG03010046; GA MŠk(CZ) LO1212
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Cryo-SEM-CL * cryo-holder
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0290659
     
     
  3. 3.
    0483558 - ÚPT 2018 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Krzyžánek, Vladislav - Skoupý, Radim - Hrubanová, Kamila - Vaškovicová, Naděžda
    Kryo-držák pro SEM umožňující zobrazování tenkých vzorků v transmisním módu s možností prvkové a katodoluminiscenční analýzy.
    [Cryo-SEM holder for imaging of thin samples in the transmission mode with elemental and cathodoluminescence analysis.]
    Interní kód: APL-2017-10 ; 2017
    Technické parametry: Kryo-držák pro rastrovací elektronové mikroskopy (SEM) vybavené kryo-systémem typu Bal-Tec (Balzers, Lichtenštajnsko) a Leica microsystems (Vídeň, Rakousko) pro účely pozorování vzorků při velmi nízkých teplotách. Kryo-držák byl navržen pro pozorování velmi tenkých vzorků umístěných na TEM síťkách a to tak, aby bylo možné pozorování v transmisním módu pomocí retraktabilního STEM detektoru, který je umístěn pod vzorkem, a zároveň umožňoval studium vzorků pomocí detektoru pro energiově-disperzní analýzu paprsků rentgenového záření (EDX), nebo katodoluminiscenčního (CL) detektoru, které jsou umístěny nad vzorkem. Kryo-držák je navržen tak, aby jej bylo možné přenášet pomocí kryo-vakuového transferu VCT100 (Bal-Tec, Leica microsystems). Kryo-držák umožňuje pevné uchycení až čtyř TEM sítěk standardních rozměrů (průměr 3.05 mm) na konci ramene směřujícího od základny. Vzdálenost středu TEM sítěk od základny je 17 mm, což zaručuje použití pro většinu komerčně dostupných retraktabilních polovodičových STEM detektorů.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Vladislav Krzyžánek, Ph.D., vlk@isibrno.cz
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TG03010046; GA MŠk(CZ) LO1212
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: cryo-SEM * cryo-STEM * cryo-holder
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0278812