Výsledky vyhledávání
- 1.0494371 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Průcha, Lukáš - Daniel, Benjamin - Piňos, Jakub - Mikmeková, Eliška
Thermal desorption spectroscopy in prototype furnace for chemical vapor deposition.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 60-61. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: thermal desorption spectroscopy * CVD * surface cleaning * silicon
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287627 - 2.0494370 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Piňos, Jakub - Frank, Luděk
Real time observation of strain in the SEM sample.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 58-59. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SEM * SLEEM * deformation
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287626 - 3.0494360 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Daniel, Benjamin - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Very low energy electron transmission spectromicroscopy.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 14-15. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: low energy scanning electron microscopy * electron microscopy * time of flight * electron energy lost spectroscopy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287590 - 4.0460208 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Piňos, Jakub - Mikmeková, Šárka - Frank, Luděk
The information depth of backscattered electron imaging.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 46-47. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * SEM * BSE
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260340 - 5.0460199 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Daniel, Benjamin - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Very low energy STEM/TOF system.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 6-7. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: elecvtron microscopy * SLEEM * UHV SLEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260331 - 6.0434110 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Piňos, Jakub - Konvalina, Ivo - Kasl, J. - Jandová, D. - Mikmeková, Šárka
Microstructural characterization of metallic materials using advanced SEM techniques.
18th International Microscopy Congres. Proceedings. Praha: Czechoslovak Microscopy Society, 2014. ISBN 978-80-260-6720-7.
[International Microscopy Congres /18./. Praha (CZ), 07.09.2014-12.09.2014]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SLEEM * low voltage microscopy * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0238245