Výsledky vyhledávání
- 1.0465341 - ÚPT 2017 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Tacke, S. - Krzyžánek, Vladislav - Nüsse, H. - Rosenthal, A. - Klingauf, J. - Wepf, R.A. - Reichelt, R.
A versatile high-vacuum cryo transfer system for cryo microscopy and analytics.
EMC2016. The 16th European Microscopy Congres. Proceedings. Oxford: Wiley, 2016, s. 412-413. ISBN 9783527808465.
[EMC2016. European Microscopy Congress /16./. Lyon (FR), 28.08.2016-02.09.2016]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: cryo-EM * High-Vacuum cryo Transfer
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/9783527808465.EMC2016.6577/pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263969 - 2.0465340 - ÚPT 2017 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Skoupý, Radim - Krzyžánek, Vladislav - Nebesářová, Jana
Plasma cleaning effect on the stability of the Epon resin sections.
EMC2016. The 16th European Microscopy Congress. Proceedings. Oxford: Wiley, 2016, s. 597-598. ISBN 9783527808465.
[EMC2016. European Microscopy Congress /16./. Lyon (FR), 28.08.2016-02.09.2016]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
Klíčová slova: STEM * plasma cleaning
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika; JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika (BC-A)
http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/9783527808465.EMC2016.5995/pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263960 - 3.0465339 - ÚPT 2017 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrubanová, Kamila - Skoupý, Radim - Nebesářová, Jana - Růžička, F. - Krzyžánek, Vladislav
The sample preparation for cryo-SEM: the real ultrastructure of microbial biofilm or just artifacts?
EMC2016. The 16th European Microscopy Congress. Proceedings. Oxford: Wiley, 2016, s. 203-204. ISBN 9783527808465.
[EMC2016. European Microscopy Congress /16./. Lyon (FR), 28.08.2016-02.09.2016]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA ČR(CZ) GA16-12477S
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
Klíčová slova: biofilm * Cryo-SEM * HPF
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/9783527808465.EMC2016.6907/pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263955 - 4.0465336 - ÚPT 2017 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krzyžánek, Vladislav - Tacke, S.
MASDET2 – software for quantitative STEM imaging.
EMC2016. The 16th European Microscopy Congress. Proceedings. Oxford: Wiley, 2016, s. 583-584. ISBN 9783527808465.
[EMC2016. European Microscopy Congress /16./. Lyon (FR), 28.08.2016-02.09.2016]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: mass measurement * quantitative imaging * STEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/9783527808465.EMC2016.5831/pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263952 - 5.0452286 - ÚPT 2016 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krzyžánek, Vladislav - Skoupý, Radim - Hrubanová, Kamila - Kočová, L. - Nebesářová, Jana
Influence of ultrathin resin section aging and its reduction for imaging in the low voltage STEM.
MC 2015. Microscopy Conference Proceedings. Göttingen: DGE, 2015, s. 817-818.
[Microscopy Conference 2015. Göttingen (DE), 06.09.2015-11.09.2015]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
Klíčová slova: STEM * ultrathin resin
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253311 - 6.0452285 - ÚPT 2016 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrubanová, Kamila - Samek, Ota - Obruča, S. - Hároniková, A. - Krzyžánek, Vladislav
Scanning electron microscopy and Raman spectroscopy of microorganisms related to biofuels and biopolymer production.
MC 2015. Microscopy Conference Proceedings. Göttingen: DGE, 2015, s. 700-701.
[Microscopy Conference 2015. Göttingen (DE), 06.09.2015-11.09.2015]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SEM * Raman spectroscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253310 - 7.0452283 - ÚPT 2016 RIV HU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krzyžánek, Vladislav - Keller, U. - Sporenberg, N. - Schönhoff, M.
Structure of polyelectrolyte hollow capsules by scanning electron microscopy.
12th Multinational Congress on Microscopy. Budapest: Akadémiai Kiadó, 2015, s. 211-212. ISBN 978-963-05-9653-4.
[MCM 2015. Multinational Congress on Microscopy /12./. Eger (HU), 23.08.2015-28.08.2015]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: cryo-SEM * low voltage STEM * quantitative imaging * hollow capsules
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253308 - 8.0452276 - ÚPT 2016 RIV HU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Skoupý, Radim - Krzyžánek, Vladislav - Kočová, L. - Nebesářová, Jana
Electron beam induced mass loss dependence on aging of Epon resin sections.
12th Multinational Congress on Microscopy. Budapest: Akadémiai Kiadó, 2015, s. 112-113. ISBN 978-963-05-9653-4.
[MCM 2015. Multinational Congress on Microscopy /12./. Eger (HU), 23.08.2015-28.08.2015]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
Klíčová slova: STEM * mass loss * resin * Epon
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253305 - 9.0436824 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krzyžánek, Vladislav - Novotná, V. - Hrubanová, Kamila - Nebesářová, J.
Beam damage of embedding media sections and their investigations by SEM.
18th International Microscopy Congres. Proceedings. Praha: Czechoslovak Microscopy Society, 2014. ISBN 978-80-260-6720-7.
[International Microscopy Congres /18./. Praha (CZ), 07.09.2014-12.09.2014]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA ČR(CZ) GA14-20012S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: beam damage * mass determination * ADF imaging
Kód oboru RIV: JB - Senzory, čidla, měření a regulace
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0240483 - 10.0434290 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrubanová, Kamila - Nebesářová, Jana - Růžička, F. - Krzyžánek, Vladislav
Comparison of freeze fracture images of mixed bacterial/yeast biofilm in cryo-SEM with high pressure freezing fixation.
18th International Microscopy Congres. Proceedings. Praha: Czechoslovak Microscopy Society, 2014. ISBN 978-80-260-6720-7.
[International Microscopy Congres /18./. Praha (CZ), 07.09.2014-12.09.2014]
Grant CEP: GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA TA ČR TE01020118; GA ČR(CZ) GA14-20012S
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
Klíčová slova: biofilm * cryo-SEM * cryo-fixation
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0238375