Výsledky vyhledávání
- 1.0471613 - FZÚ 2017 RIV SG eng M - Část monografie knihy
Kůsová, Kateřina - Hapala, Prokop - Jelínek, Pavel - Pelant, Ivan
Band structure of silicon nanocrystals.
Silicon Nanophotonics. Basic Principles, Present Status, and Perspectives. Singapore: Pan Stanford Publishing, 2016 - (Khriachtchev, L.), s. 109-144. ISBN 978-981-4669-76-4
Grant CEP: GA ČR(CZ) GBP108/12/G108; GA ČR GPP204/12/P235; GA ČR(CZ) GA14-02079S
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: silicon nanocrystals * band structure * luminescence properties
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0268973 - 2.0456656 - FZÚ 2016 RIV CH eng M - Část monografie knihy
Jelínek, Pavel
Theoretical challenges of simultaneous nc-AFM/STM experiments.
Imaging and Manipulation of Adsorbates Using Dynamic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2015 - (Moriarty, P.; Gauthi, S.), s. 81-92. Advances in Atom and Single Molecule Machines. ISBN 978-3-319-17400-6
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-02079S
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: AFM * STM * DFT simulations * electron transport * atomic contrast
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0257152 - 3.0456646 - FZÚ 2016 RIV CH eng M - Část monografie knihy
Hapala, Prokop - Ondráček, Martin - Stetsovych, Oleksandr - Švec, Martin - Jelínek, Pavel
Simultaneous nc-AFM/STM measurements with atomic resolution.
Noncontact Atomic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2015 - (Morita, S.; Giessibl, F.; Meyer, E.; Wiesendanger, R.), s. 29-49. NanoScience and Technology, 3. ISBN 978-3-319-15587-6
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-02079S
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: AFM * STM * DFT simulations * electron transport * atomic contrast
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0257148