Výsledky vyhledávání
- 1.0494373 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Řiháček, Tomáš - Horák, M. - Schachinger, T. - Matějka, Milan - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
Creation of electron vortex beams using the holographic reconstruction method in a scanning electron microscope.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 66-67. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron vortex beams * scanning electron microscopy * electron diffraction
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287630
- 2.0464387 - ÚPT 2018 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Řiháček, Tomáš - Kolařík, Vladimír - Chlumská, Jana - Urbánek, Michal
Nanopatterning of Silicon Nitride Membranes.
NANOCON 2016. 8th International Conference on Nanomaterials - Research and Application. Conference Proceedings. Ostrava: Tanger, 2017, s. 709-714. ISBN 978-80-87294-71-0.
[NANOCON 2016. International Conference on Nanomaterials - Research and Application /8./. Brno (CZ), 19.10.2016-21.10.2016]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020233; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: e-beam writer * silicon nitride membranes * nano patterning * anisotropic etching
Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0270768
- 3.0460211 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Řiháček, Tomáš - Mika, Filip - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Müllerová, Ilona
Difraction in a scanning electron microscopie.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 56-57. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * TEM * STEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260343
- 4.0448612 - ÚPT 2016 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Řiháček, Tomáš - Mika, Filip - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Müllerová, Ilona
Study of the coherence of the primary beam in the low energy scanning electron microscope.
MC 2015. Microscopy Conference Proceedings. Göttingen: DGE, 2015, s. 611-612.
[Microscopy Conference 2015. Göttingen (DE), 06.09.2015-11.09.2015]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscope * coherence of the primary beam
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0250357