0420837 - ÚPT 2014 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mika, Filip - Novotný, Peter - Konvalina, Ivo
Imaging with a STEM detector, experiments vs. simulation.
Microscopy conference (MC) 2013. Proceedings. Vol. 2. Regensburg: University of Regensburg, 2013, s. 51-52.
[Microscopy Conference 2013. Regensburg (DE), 25.08.2013-30. 08.2013]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: STEM * image contrast * Monte Carlo simulations * transmitted electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227315