Výsledky vyhledávání
- 1.0567776 - ÚPT 2023 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krátký, Stanislav - Kolařík, Vladimír - Mikel, Břetislav - Helán, R. - Urban, F.
Příprava fázových binárních mřížek pomocí elektronové litografie a reaktivního iontového leptání pro výrobu optických vláknových senzorů.
[Binary phase masks fabrication using the method of e-beam lithography and reactive ion etching for optical fiber sensors manufacturing.]
LA62. Sborník příspěvků multioborové konference LASER62. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2022 - (Růžička, B.), s. 43-44. ISBN 978-80-87441-30-5.
[LASER62. Lednice (CZ), 09.11.2022-11.11.2022]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) FW01010379
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Binary phase gratings * e-beam lithography * reactive ion etching * optical fiber sensors * diffraction grating
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0339029 - 2.0564672 - ÚPT 2023 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Horáček, Miroslav - Krátký, Stanislav - Matějka, Milan - Chlumská, Jana - Meluzín, Petr - Pirunčík, J. - Aubrecht, I. - Kotrlý, M. - Kolařík, Vladimír
A sampler of diffraction and refraction optically variable image elements.
NANOCON 2021 - Conference proceedings. Ostrava: Tanger Ltd., 2021, s. 436-441. ISBN 978-80-88365-00-6. ISSN 2694-930X.
[International Conference on Nanomaterials - Research & Application /13./ NANOCON. Brno (CZ), 20.10.2021-22.10.2021]
Grant CEP: GA MV(CZ) VI20192022147
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: diffraction * refraction * e-beam writer * embossing * galvanic replication * mastering * optically variable image element * security * valuables
Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale)
https://www.confer.cz/nanocon/2021/4371-a-sampler-of-diffraction-and-refraction-optically-variable-image-elements
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0336321 - 3.0543745 - ÚPT 2022 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Chlumská, Jana - Lalinský, Ondřej - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Kolařík, Vladimír
Patterning of conductive nano-layers on garnet.
NANOCON 2020. 12th International Conference on Nanomaterials - Research & Application. Conference proceedings. Ostrava: TANGER, 2021, (2021), s. 221-224. ISBN 978-80-87294-98-7. ISSN 2694-930X.
[International Conference NANOCON 2020 /12./. Brno (CZ), 21.10.2020-23.10.2020]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Electron beam lithography * nano-patterning * yttrium aluminium garnet
Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale)
https://www.confer.cz/nanocon/2020/3731-patterning-of-conductive-nano-layer-on-garnet
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0320902 - 4.0535590 - ÚPT 2021 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pilát, Zdeněk - Ježek, Jan - Kizovský, Martin - Klementová, Tereza - Krátký, Stanislav - Sobota, Jaroslav - Samek, Ota - Zemánek, Pavel - Buryška, T. - Damborský, J. - Prokop, Z.
Surface-enhanced Raman Spectroscopy in Microfluidic Chips for Directed Evolution of Enzymes and Environmental Monitoring.
PhotonIcs and Electromagnetics Research Symposium - Spring, PIERS-Spring 2019. Proceedings. New York: IEEE, 2019, s. 1301-1309. Progress in Electromagnetics Research Symposium. ISBN 978-1-7281-3403-1. ISSN 1559-9450.
[PhotonIcs and Electromagnetics Research Symposium - Spring (PIERS-Spring) 2019. Rome (IT), 17.06.2019-20.06.2019]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA16-07965S; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: chemical analysis * Raman spectroscopy * emission spectroscopy * light transmission
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0313571 - 5.0500944 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Meluzín, Petr - Tryhuk, V. - Horáček, Miroslav - Knápek, Alexandr - Krátký, Stanislav - Matějka, Milan - Kolařík, Vladimír
Silver micro drop structured twice around the earth.
Metal 2018 - 27th International conference on metallurgy and materials, Conference Proceedings. Ostrava: TANGER Ltd, 2018, s. 1175-1180. ISBN 978-80-87294-84-0.
[International Conference on Metallurgy and Materials /27./. METAL 2018. Brno (CZ), 23.05.2018-25.05.2018]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020233; GA TA ČR TG03010046; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: metallic thin layer * planar surface structure * phyllotactic spiral * e-beam writer
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0292979 - 6.0498741 - ÚPT 2019 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pilát, Zdeněk - Kizovský, Martin - Ježek, Jan - Krátký, Stanislav - Sobota, Jaroslav - Šiler, Martin - Samek, Ota - Buryška, T. - Vaňáček, P. - Damborský, J. - Prokop, Z. - Zemánek, Pavel
Surface-enhanced Raman spectroscopy of chloroalkanes in microfluidic chips.
21st Czech-Polish-Slovak Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics. (Proceedings of SPIE 10976). Bellingham: SPIE, 2018 - (Zemánek, P.), č. článku 1097619. ISBN 9781510626072. ISSN 0277-786X.
[Czech-Polish-Slovak Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics /21./. Lednice (CZ), 03.09.2018-07.09.2018]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA16-07965S; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Surface enhanced Raman spectroscopy * microfluidics * Klarite 312 * chloroalkane * 1,2,3-trichloropropane
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0291099 - 7.0498736 - ÚPT 2019 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Maňka, Tadeáš - Šerý, Mojmír - Krátký, Stanislav - Zemánek, Pavel
Laser system for measuring MEMS relief created by the method of deep reactive ion etching.
21st Czech-Polish-Slovak Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics. (Proceedings of SPIE 10976). Bellingham: SPIE, 2018 - (Zemánek, P.), č. článku 109760M. ISBN 9781510626072. ISSN 0277-786X.
[Czech-Polish-Slovak Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics /21./. Lednice (CZ), 03.09.2018-07.09.2018]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: laser interferometry * DRIE * MEMS * depth measuring
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0291094 - 8.0494374 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Rodenburg, C. - Masters, R. - Abrams, K. - Dapor, M. - Krátký, Stanislav - Mika, Filip
Secondary electron hyper spectral imaging in helios nanolab - mapping materials properties or artefacts?
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 68-69. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: secondary electrons * polymers * hyperspectral imaging
Obor OECD: Coating and films
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0288492 - 9.0494364 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Horáček, Miroslav - Knápek, Alexandr - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Urbánek, M. - Mika, Filip - Kolařík, Vladimír
Hiding e-beam exposure fields by deterministic 2D pattering.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 36-37. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020233; GA TA ČR TG03010046; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: phyllotaxis * electron beam lithography
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287595 - 10.0485656 - ÚPT 2018 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krátký, Stanislav - Horáček, Miroslav - Meluzín, Petr - Kolařík, Vladimír - Matějka, Milan - Oulehla, Jindřich - Pesic, Z.
Lift-off technology for thick metallic microstructures.
METAL 2017. 26th International Conference on Metallurgy and Materials. Conference Proceedings. Ostrava: TANGER, 2017, s. 1298-1302. ISBN 978-80-87294-79-6.
[METAL 2017: International Conference on Metallurgy and Materials /26./. Brno (CZ), 24.05.2017-26.05.2017]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: lift-off technique * SU-8 photoresist * e-beam lithography * thick layer evaporation
Obor OECD: Coating and films
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0280633