Výsledky vyhledávání
- 1.0452397 - ÚPT 2016 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Lazar, Josef - Holá, Miroslava - Hrabina, Jan - Oulehla, Jindřich - Číp, Ondřej - Vychodil, M. - Sedlář, P. - Provazník, M.
Pokročilé interferometrické systémy pro měření polohy v nanometrologii.
[Advanced interferometry systems for dimensional measurement in nanometrology.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 60, č. 1 (2015), s. 14-17. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA ČR GB14-36681G; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TA01010995; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: interferometry systems * dimensional measurement * nanometrology
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253412 - 2.0449486 - ÚPT 2016 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
Holá, Miroslava - Hrabina, Jan - Šarbort, Martin - Oulehla, Jindřich - Číp, Ondřej - Lazar, Josef
Contribution of the Refractive Index Fluctuations to the Length Noise in Displacement Interferometry.
Measurement Science Review. Roč. 15, č. 5 (2015), s. 263-267. ISSN 1335-8871. E-ISSN 1335-8871
Grant CEP: GA ČR GB14-36681G; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT EE2.3.30.0054
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: nanometrology * interferometry * refractive index of air
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 0.969, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0251067 - 3.0444439 - ÚPT 2016 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Lazar, Josef - Klapetek, P. - Valtr, M. - Hrabina, Jan - Buchta, Zdeněk - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Oulehla, Jindřich - Šerý, Mojmír
Short-Range Six-Axis Interferometer Controlled Positioning for Scanning Probe Microscopy.
Sensors. Roč. 14, č. 1 (2014), s. 877-886. E-ISSN 1424-8220
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: nanometrology * nanopositioning interferometry * AFM * nanoscale
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 2.245, rok: 2014
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0246959 - 4.0434935 - ÚPT 2016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Hrabina, Jan - Šarbort, Martin - Acef, O. - Du Burck, F. - Chiodo, N. - Holá, Miroslava - Číp, Ondřej - Lazar, Josef
Spectral properties of molecular iodine in absorption cells filled to specified saturation pressure.
Applied Optics. Roč. 53, č. 31 (2014), s. 7435-7441. ISSN 1559-128X. E-ISSN 2155-3165
Grant CEP: GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TA01010995; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01; GA ČR GB14-36681G; GA MŠMT(CZ) 7AMB14FR040
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: spectroscopy * absorption * laser stabilization * metrological instrumentation
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.784, rok: 2014
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0238889 - 5.0431672 - ÚPT 2015 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
Hrabina, Jan - Acef, O. - Du Burck, F. - Chiodo, N. - Candela, Y. - Šarbort, Martin - Holá, Miroslava - Lazar, Josef
Comparison of Molecular Iodine Spectral Properties at 514.7 and 532 nm Wavelengths.
Measurement Science Review. Roč. 14, č. 4 (2014), s. 213-218. ISSN 1335-8871. E-ISSN 1335-8871
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TA01010995; GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: laser spectroscopy * metrology * molecular iodine * absorption cells * frequency doubling * nterferometry
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 0.989, rok: 2014
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0236261 - 6.0399809 - ÚPT 2014 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Lazar, Josef - Holá, Miroslava - Číp, Ondřej - Hrabina, Jan - Oulehla, Jindřich
Interferometric system with tracking refractometry capability in the measuring axis.
Measurement Science and Technology. Roč. 24, č. 6 (2013), 067001:1-6. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
Grant CEP: GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GPP102/11/P820; GA TA ČR TE01020233; GA TA ČR TA02010711; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: refractometry * nanopositioning * interferometry * nanometrology
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.352, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227030 - 7.0397701 - ÚPT 2014 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Holá, Miroslava - Číp, Ondřej
Investigation of Short-term Amplitude and Frequency Fluctuations of Lasers for Interferometry.
Measurement Science Review. Roč. 13, č. 2 (2013), s. 63-69. ISSN 1335-8871. E-ISSN 1335-8871
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA ČR GA102/09/1276; GA AV ČR KAN311610701; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT(CZ) LC06007; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: nanometrology * laser noise * AFM * spectroscopy * interferometry
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.162, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0225338 - 8.0397637 - ÚPT 2014 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Buchta, Zdeněk - Rychnovský, Jan - Lazar, Josef
High-power laser diode array linewidth reduced by the external injection locking technique.
Laser Physics Letters. Roč. 10, č. 10 (2013), 105002:1-5. ISSN 1612-2011. E-ISSN 1612-202X
Grant CEP: GA ČR GA102/04/2109; GA MŠMT(CZ) LC06007; GA MŠMT 2C06012; GA AV ČR IAA200650504; GA AV ČR IAA1065303; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: spin-exchange * gas nuclei * polarization * iodine * RB
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 2.964, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0225251 - 9.0385756 - ÚPT 2013 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Lazar, Josef - Hrabina, Jan - Šerý, Mojmír - Číp, Ondřej - Čížek, Martin
Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy.
[Laser system for measurement of the 3D position with nanometre resolution for microscopes.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 57, č. 10 (2012), s. 283-286. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA ČR GA102/09/1276; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT ED0017/01/01; GA ČR GPP102/11/P820
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: coordinate position sensing * nanometrology * 3D position * atomic force microscopy * local probe techniques * electron microscopy
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215570 - 10.0385287 - ÚPT 2013 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Lazar, Josef - Holá, Miroslava - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Hrabina, Jan - Buchta, Zdeněk
Refractive Index Compensation in Over-Determined Interferometric Systems.
Sensors. Roč. 12, č. 10 (2012), s. 14084-14094. E-ISSN 1424-8220
Grant CEP: GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GPP102/11/P820; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: refractometry * nanopositioning * interferometry * nanometrology
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.953, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0214593