Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0387384 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Mikmeková, Šárka - Mrňa, Libor - Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    Examination of metals and alloys with slow and very slow electrons.
    METAL 2012 Conference Proceedings. 21st International Conference on Metallurgy and Materials. Ostrava: TANGER Ltd, 2012. ISBN 978-80-87294-29-1.
    [METAL 2012. International Conference on Metallurgy and Materials /21./. Brno (CZ), 23.05.2012-25.05.2012]
    Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * microstructure characterization * chemical composition analysis * residual stress
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0216605
     
     
  2. 2.
    0379933 - ÚPT 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo - Mika, Filip
    Collection contrast in the immersion objective lens of the scanning electron microscope.
    Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2012 - (Mika, F.), -, -, s. 49-50. ISBN 978-80-87441-07-7.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./. Skalský dvůr (CZ), 25.06.2012-29.06.2012]
    Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning electron microscope * cathode lens * secondary electrons * backscattered electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210780
     
     
  3. 3.
    0379917 - ÚPT 2012 RIV AU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    Very Low Energy STEM and Imaging of Free-standing Foils.
    Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 411:1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
    [Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
    Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * cathode lens * transmitted electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210768
     
     
  4. 4.
    0379916 - ÚPT 2012 RIV AU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Mika, Filip
    Approaches to the Collection Contrast in the Immersion Objective Lens of the Scanning Electron Microscope.
    Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 410:1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
    [Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
    Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning electron microscopy * cathode lens * secondary electrons * backscattered electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210767
     
     
  5. 5.
    0379915 - ÚPT 2012 RIV AU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Mikmeková, Šárka - Matsuda, K. - Mikmeková, Eliška - Ikeno, S. - Shiojiri, M.
    SLEEM and its Applications in Material Research.
    Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 409: 1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
    [Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
    Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * cathode lens
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210766