Výsledky vyhledávání
- 1.0374373 - FZÚ 2012 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Bovtun, Viktor - Pashkov, V. - Kempa, Martin - Kamba, Stanislav - Eremenko, A. - Molchanov, V. - Poplavko, Y. - Yakymenko, Y. - Lee, J.H. - Schlom, D. G.
An electrode-free method of characterizing the microwave dielectric properties of high-permittivity thin films.
Journal of Applied Physics. Roč. 109, č. 2 (2011), 024106/1-024106/6. ISSN 0021-8979. E-ISSN 1089-7550
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/09/0682
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: microwave characterization * ferroelectrics * thin film * dielectric resonator
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.168, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0207310