Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0421395 - ÚFM 2014 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Meduňa, M. - Caha, O. - Kuběna, J. - Kuběna, A. - Svoboda, Milan - Buršík, Jiří
    Oxygen Precipitation in CZ Si Wafers after High Temperature.
    SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.). ISBN 978-80-254-7361-0.
    [Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
    Institucionální podpora: RVO:68081723
    Klíčová slova: oxygen precipitation * Si wafers
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0228230
     
     
  2. 2.
    0421391 - ÚFM 2014 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Caha, O. - Meduňa, M. - Bernatová, S. - Růžička, J. - Mikulík, P. - Buršík, Jiří - Svoboda, Milan - Bernstorff, S.
    X-ray scattering study of oxide precipitates in Cz-Si.
    SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.). ISBN 978-80-254-7361-0.
    [Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
    Institucionální podpora: RVO:68081723
    Klíčová slova: x-ray * silicon * defects
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0228231
     
     
  3. 3.
    0356659 - FZÚ 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Mandát, Dušan - Pech, Miroslav - Palatka, Miroslav - Nožka, Libor - Nováková, P. - Hrabovský, M. - Schovánek, Petr
    Measurement of scattering properties of ultrathin glass mirrors.
    SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.), s. 419-425. ISBN 978-80-254-7361-0.
    [Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) 1M06002; GA MŠMT(CZ) LA08016
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
    Klíčová slova: ultrathin glass mirrors
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006351
     
     
  4. 4.
    0356657 - FZÚ 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Palatka, Miroslav - Mandát, Dušan - Pech, Miroslav - Nožka, Libor - Nováková, P. - Marek, M. - Hrabovský, M. - Schovánek, Petr
    Near UV filter optical properties.
    SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.), s. 403-418. ISBN 978-80-254-7361-0.
    [Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) 1M06002; GA MŠMT(CZ) LA08016
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
    Klíčová slova: fluorescence telescopes * UV filter
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006350
     
     
  5. 5.
    0356654 - FZÚ 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Chmelíčková, Hana - Lapšanská, Hana - Nožka, Libor
    Spectroscopic method for the laser welding quality control.
    SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.), s. 395-398. ISBN 978-80-254-7361-0.
    [Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR KAN301370701
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
    Klíčová slova: laser welding * defect control * spectroscopy * pulsed Nd:YAG laser
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006349
     
     
  6. 6.
    0356651 - FZÚ 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lapšanská, Hana - Schovánek, Petr
    Laser scanning confocal microscopy for 3D surface mapping.
    SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.), s. 435-440. ISBN 978-80-254-7361-0.
    [Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR KAN301370701
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
    Klíčová slova: laser scanning * 3D surface mapping
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006348
     
     
  7. 7.
    0356592 - FZÚ 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Havelková, Martina - Schovánek, Petr
    FEM simulation of thermal differences in semi finished glass pieces during the cooling.
    SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.), s. 297-298. ISBN 978-80-254-7361-0.
    [Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR KAN301370701
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
    Klíčová slova: heat treatment * numerical simulation * finite element method (FEM)
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006344
     
     
  8. 8.
    0356591 - FZÚ 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Havelková, Martina - Hiklová, Helena
    Silicon monocrystal wafers ground with various abrasive materials.
    SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.), s. 289-290. ISBN 978-80-254-7361-0.
    [Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) 1M06002; GA AV ČR KAN301370701
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
    Klíčová slova: silicon monocrystal * abrasive materials
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006343
     
     
  9. 9.
    0356590 - FZÚ 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hiklová, Helena
    2D and 3D mapping of solid surfaces using Form Talysurf Series 2 device.
    SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific, s.r.o., 2010 - (Vojtěchovský, K.), s. 293-295. ISBN 978-80-254-7361-0.
    [Scientific and Business Conference SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) 1M06002; GA AV ČR KAN301370701
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
    Klíčová slova: talysurf * surface mapping
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006342
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.