Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0435649 - ÚFM 2015 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Král, Petr - Dluhoš, J. - Peřina, P. - Barták, T.
    3D analysis of microstructure changes occurring during creep tests of ultra-fine grained materials.
    Recrystallization and Grain Growth V. Stafa-Zurich: Trans Tech Publications, 2013 - (Barnett, M.), s. 46-49. Materials Science Forum, 753. ISBN 978-3-03785-688-8. ISSN 0255-5476.
    [ReX&GG V - International Conference on Recrystallization and Grain Growth /5/. Sydney (AU), 05.05.2013-10.05.2013]
    Institucionální podpora: RVO:68081723
    Klíčová slova: Recrystallization * ECAP * Creep * 3D EBSD * Focused Ion Beam
    Kód oboru RIV: JJ - Ostatní materiály
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0239454
     
     
  2. 2.
    0435392 - ÚFM 2015 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Petrenec, M. - Polák, Jaroslav - Šamořil, T. - Dluhoš, J. - Obrtlík, Karel
    In-situ Study of the Mechanisms of High Temperature Damage.
    11th International Fatigue Congress. Zurich: Trans Tech Publications, 2014 - (Clark, G.; Wang, C.), s. 891-892. Advanced Materials Research, 891-892. ISBN 978-3-03835-008-8. ISSN 1022-6680.
    [Fatigue 2014 - International Fatigue Congress /11./. Melbourne (AU), 02.03.2014-07.03.2014]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA13-23652S
    Institucionální podpora: RVO:68081723
    Klíčová slova: fatigue damage * high temperature * nickel superalloy * TEM lamella
    Kód oboru RIV: JL - Únava materiálu a lomová mechanika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0239446
     
     
  3. 3.
    0420966 - ÚPT 2014 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hrubanová, Kamila - Nebesářová, J. - Růžička, F. - Dluhoš, J. - Samek, Ota - Krzyžánek, Vladislav
    Comparison of biofilm formation of mixed yeast/bacterial cultures by FIB-SEM tomography.
    Microscopy conference (MC) 2013. Proceedings. Vol. 2. Regensburg: University of Regensburg, 2013, s. 424-425.
    [Microscopy Conference 2013. Regensburg (DE), 25.08.2013-30. 08.2013]
    Grant CEP: GA MŠMT EE.2.3.20.0103; GA ČR GAP205/11/1687
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: biofilm * mixed yeast/bacteria cultures * FIB-SEM
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227487
     
     
  4. 4.
    0420838 - ÚPT 2014 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hrubanová, Kamila - Růžička, F. - Nebesářová, J. - Burdíková, Z. - Dluhoš, J. - Collakova, J. - Samek, Ota - Krzyžánek, Vladislav
    Electron and light microscopy of yeast biofilm.
    Microscopy conference (MC) 2013. Proceedings. Vol. 2. Regensburg: University of Regensburg, 2013, s. 19-20.
    [Microscopy Conference 2013. Regensburg (DE), 25.08.2013-30. 08.2013]
    Grant CEP: GA MŠMT EE.2.3.20.0103; GA ČR GAP205/11/1687; GA TA ČR TE01020118
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: biofilm * cryo-SEM * light microscopy
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227333
     
     
  5. 5.
    0381919 - ÚFM 2013 RIV RU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Man, Jiří - Valtr, M. - Petrenec, Martin - Dluhoš, J. - Kuběna, Ivo - Obrtlík, Karel - Polák, Jaroslav
    Experimental studies on fundamental mechanisms leading to fatigue crack initiation.
    19th European Conference on Fracture: Fracture Mechanics for Durability, Reliability and Safety. Kazan: Kazan Scientific Centre of the RAS, 2012 - (Klingbeil, D.; Vormwald, M.; Eulitz, G.), Paper No. 266. ISBN 978-5-905576-18-8.
    [ECF 19 - European Conference on Fracture /19./. Kazan (RU), 26.08.2012-31.08.2012]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GAP108/10/2371
    Institucionální podpora: RVO:68081723
    Klíčová slova: fatigue * 316L austenitic stainless steel * atomic force microscopy (AFM) * persistent slip band (PSB) * persistent slip marking (PSM) * extrusion * intrusion * crack initiation * point defects
    Kód oboru RIV: JL - Únava materiálu a lomová mechanika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0212279
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.