Výsledky vyhledávání
- 1.0353047 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zlámal, J. - Lencová, Bohumila
Accurate and Easy-to-use Electron Optical Design Program for Microscopy.
Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, I1.6:1-2. ISBN 978-85-63273-06-2.
[International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: EOD * FEM * Windows
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192397 - 2.0353046 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jirák, J. - Čudek, P. - Neděla, Vilém
Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector in Variable Pressure Scanning Electron Microscopes.
Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, I10.14: 1-2. ISBN 978-85-63273-06-2.
[International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: VPSEM * scintillation detector
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192396 - 3.0353039 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém - Jirák, J.
Newly Designed Ionisation Secondary Electron Detector with Electrostatic Separators for VP-ESEM.
Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, I10.9: 1-2. ISBN 978-85-63273-06-2.
[International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: ISEDS * VPSEM * ESEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192389 - 4.0352423 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Matějka, František - Horáček, Miroslav - Kolařík, Vladimír - Král, Stanislav
Modification of the Schottky FE ZrO/W electron emitter.
Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, I1.12: 1-2. ISBN 978-85-63273-06-2.
[International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650803; GA MPO FR-TI1/576; GA MŠMT ED0017/01/01
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: e-beam writing system * rectangular-shaped electron beam * point projection
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191931 - 5.0352422 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Frank, Luděk
Advances in Low Energy Scanning Electron Microscopy.
Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, s. 256-257. ISBN 978-85-63273-06-2.
[International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: electron microscopy * cathode lens * slow backscattered electrons * STEM * VLESTEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191930 - 6.0352416 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Low Energy Reflection and High Angle Reflection of Electrons in the SEM.
Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, I3.7: 1-2. ISBN 978-85-63273-06-2.
[International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * crystallinic structure * slow backscattered electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191924