Výsledky vyhledávání
- 1.0396844 - ÚFE 2014 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lomov, A. A. - Grym, Jan - Nohavica, Dušan - Orehov, A.S. - Vasil'ev, A. L. - Novikov, D. V.
High-resolution X-ray diffraction and electron microscopy study of porous GaAs substrates.
International Conference Micro- and Nano-Electronics 2012 (Proc. SPIE 8700). BELLINGHAM: SPIE, 2013 - (Orlikovsky, A.). ISBN 9780819494870. ISSN 0277-786X.
[International Conference Micro- and Nano-Electronics 2012. Zvenlgorod (RU), 01.10.2012-5.10.2012]
Grant CEP: GA MŠMT LD12014
Institucionální podpora: RVO:67985882
Klíčová slova: Etching * Diffraction * Galllium arsenide
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0224551